Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к проектированию и изготовлению полупроводниковых миниатюрных датчиков, и является усовершенствованием известного способа, описанного в авт. св. N 1144667.
Цель изобретения повышение точности и прочности чувствительных элементов.
На фиг. 1 представлены верхняя и нижние пластины кремния (Si), покрытые маскирующей пленкой двуокиси кремния (SiO2); на фиг.2 пластины Si с разделительными канавками, предварительно сформированными разнопрофильными углублениями и перемычками; на фиг.3 пластины, на верхней из которых сформированы тензосхема и профиль, покрытый слоем окисла; на фиг.4 пластины, соединенные в единый блок и подготовленные для дотравливания перемычек в разделительных канавках в профиле чувствительных элементов; на фиг.5 разделенные чувствительные элементы с окончательно сформированным профилем.
П р и м е р. На пластинах 1, например, из монокристаллического кремния КЭФ 4, 5 ориентации (100) толщиной 300-350 мкм термическим окислением в атмосфере сухого и влажного кислорода формируют пленку 2 SiO2 толщиной 0,6-1,0 мкм. Затем проводят фотолитографию по SiO2, в результате чего в маскирующей окисной пленке вскрываются окна размеров an под профиль, и проводят предварительное травление кремния, в результате чего деформируются разделительные канавки 3 и углубления профиля 4, входные размеры которого также равны аk. Для случая жидкого травления травителем является 25%-ный раствор КОН, травление проводят в водяной бане при температуре 96 ± 1о С.
На верхней пластине путем термодиффузии или ионного легирования, фотолитографии и металлизации формируют топологию тензосхемы 5, причем в результате термических операций стенки профиля покрываются пленкой 6 SiO2. Далее пластины соединяют в блок 7 (путем электростатического процесса или с помощью эвтектики золото-кремний, алюминий-кремний, или с помощью стеклосвязки), защищают тензосхему защитной пленкой 8, например компаундом типа КЛТ, и дотравливают перемычки 9 в указанном выше травителе.
Так как входные 10 и выходные 11 отверстия пластин согласованы между собой, в результате дотравливания пластины разделяются на отдельные чувствительные элементы 12, имеющие гладкую внутреннюю поверхность.
Для подтверждения соотношения для аk в формуле рассматривают случай с тремя пластинами. При согласовании входных и выходных отверстий у предыдущей и последующих пластин получается непрерывный гладкий профиль. Так, если у верхней пластины размер входного отверстия углубления равен а1, то для непрерывности профиля необходимо соблюдать условие
а1 а2вых; а2 а3вых.аi=a(i+1)вых, где аi размер входного отверстия углублений, который равен размеру окон в маскирующем покрытии;
а(i+1)вых размер выходных отверстий профиля в пластинах. а1 определяется из размеров А рабочей части чувствительного элемента, толщины пластины Н1. Нk.Н; и угол α наклона боковой грани (фиг.1, 4) по формуле
a1 Ao + 2(H1-t1)tg α (1) а2, в свою очередь, определяется по формуле
a2 a1 + 2H2 tg α (2)
Подставляя формулу (1) в формулу (2), получают
а2 Ао + 2(H1 + H2 t1) tg α (3) или, распространяя на любое количество пластин, имеют
aк= Ao+2[(H1+H2+ Hк)-to]tgα Ao+2(Hi)-to]tgα
(4)
Для получения непрерывного профиля чувствительного элемента необходимо формировать окна в маске на пластинах с размерами, выбранными из соотношения (4). Из формулы (4) видно, что аk зависит от геометрических размеров рабочей части мембраны чувствительного элемента, толщины пластин и показателя анизотропии α. α определяется как свойствами материала, так и технологией формирования профилей. Для анизотропного травителя кремния раствора КОН (едкого калия), а также для плазмохимического травления кремния в кислородно-фреоновой плазме α изменяется от 40 до 50о в зависимости от соотношения кислорода, фреона и азота в газовой смеси.
Использование описанного способа позволяет повысить точность за счет отсутствия сглаживания пульсации измеренной среды и прочность за счет исключения концентраторов в профиле и его сглаживания.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ изготовления упругих элементов микромеханических датчиков | 2016 |
|
RU2648287C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ УПРУГИХ ЭЛЕМЕНТОВ ИЗ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ | 2002 |
|
RU2211504C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ УНИВЕРСАЛЬНЫХ ДАТЧИКОВ СОСТАВА ГАЗА | 2010 |
|
RU2449412C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ДАТЧИКОВ КОНЦЕНТРАЦИИ ГАЗА | 2015 |
|
RU2597657C1 |
Способ изготовления кристаллов микроэлектромеханических систем | 2016 |
|
RU2625248C1 |
Способ изготовления интегральных преобразователей | 2018 |
|
RU2698486C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ УПРУГИХ ЭЛЕМЕНТОВ | 2015 |
|
RU2601219C1 |
СПОСОБ АНИЗОТРОПНОГО ТРАВЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ | 1996 |
|
RU2106717C1 |
СПОСОБ ЗАЩИТЫ УГЛОВ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР НА КРЕМНИЕВОЙ ПЛАСТИНЕ ПРИ ГЛУБИННОМ АНИЗОТРОПНОМ ТРАВЛЕНИИ | 2002 |
|
RU2220475C1 |
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ МЕМБРАННОГО ТИПА И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2007 |
|
RU2327252C1 |
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при конструировании и изготовлении полупроводниковых чувствительных элементов датчиков и микроприборов. Целью изобретения является повышение точности и прочности чувствительных элементов. Окна для травления профиля в маскирующем слое на пластинах формируют с размерами, отвечающими соотношению где ak размер входного отверстия углубления на k-й пластине; Ao рабочий размер мембраны чувствительного элемента; Hi толщина i-й пластины; to толщина мембраны чувствительного элемента; α - показатель анизотропии, угол между боковой гранью углубления, получаемого при анизотропном травлении, и плоскостью, перпендикулярной поверхности мембраны и проходящей через линию пересечения боковой грани и мембраны; i 1 k порядковый номер пластины, начиная с пластины с мембраной. Достижение целей, которое обеспечивается за счет согласования входных и выходных отверстий в соединяемых пластинах, приводит к получению гладких стенок углубления с мембраной. 5 ил.
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ КРЕМНИЕВЫХ ТЕНЗОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ по авт. св. N 1144667, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и прочности чувствительных элементов, окна для травления профиля в маскирующем слое на пластинах формируют с размерами, определяемыми соотношением:
где ak размер входного отверстия углубления в k-й пластине;
A0 рабочий размер мембраны чувствительного элемента;
Hi толщина i-й пластины;
t0 толщина мембраны чувствительного элемента;
α -показатель анизотропии, угол между боковой гранью углубления, получаемого при анизотропном травлении, и плоскостью, перпендикулярной поверхности мембраны и проходящей через линию пересечения боковой грани и мембраны;
i 1 k порядковый номер пластин, начиная с пластины с мембраной.
Устройство для транспортировки слабого скота | 1982 |
|
SU1144667A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1995-12-10—Публикация
1987-02-24—Подача