Магнитный дефектоскоп Советский патент 1962 года по МПК G01N27/83 H01F13/00 

Известны магнитные дефектоскопы для контроля изделий постоянного сечения и неограниченной длины.

В этих дефектоскопах электромагнит, намагничивающий изделие, расположен под углом к оси изделия.

В предлагаемом дефектоскопе, с целью выявления дефектов, расположенных под любым углом к оси проверяемого изделия, полюса электромагнита выполнены передвижными и расположены параллельно от изделия с двух сторон по его длине так, чтобы в зависимости от расстояния между полюсами изменялось напряжение магнитного поля и изделия.

На чертеже схематически изображена намагничивающая система, представляющая собой два электромагнита / с своеобразными полюсами 2 и общим магнитопроводом 3 Г-образной формы. Включаются катущки электромагнитов так, что магнитные потоми их складываются. Полюса имеют определенные размеры и сдвинуты относительно друг друга таким образом, что между ниЛШ в определенной области существует магнитное поле, с помощью которого хорощо выявляются продольные и поперечные дефекты на проходящей между полюсами трубе. На чертеже указаны 1место 4 полива магнитной суспензией и место 5 осмотра, которые являются в данном случае строго определенными, чтобы чувствительность к продольным и поперечным дефектам была одинакова (чув1ствительность к продольным и поперечным дефектам можно регулировать раздельно).

Предмет изобретения

Магнитный дефектоскоп для контроля изделий постоянного сечения и неограниченной длины, в «отором намагничивающий изделие электромагнит расположен под углом к оси изделия, отлич ающийея тем, что, с целью выявления дефектов, расположенных п-од любы углом к оси проверяемого изделия, полюса электромагнита выполнены передвижными и расположены параллельно оси изделия с двух сторон по его длине так, чтобы в зависимости от расстояния между полюсами изменялось направление магнитного поля в .изделии