Способ определения полюсной плотности текстурованных материалов Советский патент 1989 года по МПК G01N23/20 

Изобретение относится к средствам, рентгенографического контроля- свойств материалов и может быть применено для контроля технологических процессов при изготовлении кольцевых и секторных магнитов.

Цель изобретения - повышение про- изводительности контроля за счет сокращения времени на подготовку образцов при контроле кольцевых или секторных магнитов из гексагональных материалов.

Сущность способа заключается в том, что определение полюсной плотности PQQ вдоль каждого технологического направления, совпадающего с осью аксиальной текстуры, осуществляют путем расчета или по градуировоч- ному графику зависимости

ехрСС Рооа) ,, ехр(С х

. 002

X Р

90 002.

),

ел

ПО экспериментально найденному значению полюсной плотности POOZ плоскости (002), параллельной оси. текстуры с помощью метода обратных полюсных фигур.

Пример. Проводилось измерение уровня радиальной текстуры в кольцевых маг нитах на основе соединения SmCoj. с внешним диаметром 16 мм, внутренним 5 мм, толщиной 3 мм. Mai- ниты изготовлены из сплава, содержащего 37,2 Sm, 62,8% Со, получены

05 СЛ

to

5Ы

линейным прессованием с удельным давлением Р 10 т/см.

Использовался рентгеновский диф- рактометр ДРОН-ЗМ, СоК -излучение. Электрические режимы на рентгеновской трубке: и 35 KV, мА. Скорость вращения гониометра 1. град-Х /мин. Облучение рентгеновским пучком проводилось в диапазоне углов дифракции 17-38.

Для определения в еличины С в расчетной формуле готовился магнит из соединения на- основе SmCoj в форме прямоугольного параллелепипеда размером 15 X 17 X 0 ммз. Далее готовились шлифованные поверхности под углами СР, равными: О, 10, 20, 30, АО, 50, 60, 70, 80, 90° к оси текстуры.

Величина С определялась из соот2

Формула изобретения

Способ определения полюсной плот- ности текстурованных материалов, включающий облучение образца рентгеновским пупком, анализ отраженного пучка и расчет полюсной плотности по методу обратных полюсных фигур, о т- личающийся тем, что, с це- лью повышения производительности контроля за счет сокращения времени на подготовку образцов при контроле кольцевых и секторных магнитов из гексагональных материалов, анализ отраженного пучка проводят от кристаллографической плоскости (002), параллельной направлению оси текстуры, находят полюсную плотность

00

Р

оог

а определение полюсной плот

Изобретение относится к области средств рентгенографического контроля свойств материалов, в частности может быть применено для контроля технологических процессов при изготовлении кольцевых и секторных магнитов. Цель изобретения состоит в повышении производительности контроля благодаря сокращению времени на подготовку образцов при контроле кольцевых и секторных магнитов из гексагональных материалов. Контролируемый магнит, например, из сплава кобальт-самарий, структура которого характеризуется аксиальной текстурой радиального направления, подвергают рентгенографированию на предмет определения полюсной плотности Р₀₀₂ по плоскости, параллельной оси текстуры, а затем рассчитывают полюсную плотность Р₀₀₂ вдоль оси текстуры или находят ее из градуировочного графика зависимости Р₀₀₂^.EXP(C^.P₀₀₂)=P₀₀₂^.EXP(C^.P₀₀₂).

ношения

С

рЧО рТ

я.л 7 -L Л

оог 002, где (Ц - тангенс угла наклона прямой,

построенной в координатах от Ц) . . При этом С -,2826.

Для исследуемых образцов и порошков из того же сплава проводилось измерение интенсивности дифракционных отражений (101), (ПО), (200), (ill), (002), (201), (112), (211), (202). После этого, проводился расчет величочины РООЗ.

1 о

которая равна 0,0. Значение POOJ. , определенное по градуиро- вочному графику, равно 0,67.

5

ности вдоль оси текстуры производят путем пересчета найденной полюсной плотности для плоскости (002) в полюсную плотность РООЗ. искомой тек- 5 стуры с помощью градуировочного графика зависимости 7° от Рдог ченного на основе соотношения

X Р

0

(PoV- ехр(С-Р°

90 002

),

00-2.- о

Pj.expCC X

где С - величина, постоянная для данного материала и технологических условий изготовления магни тов, определяемая с помощью изготовления и анализа эталонных образцов.