Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения толщины покрытия, наносимого на внутреннюю поверхность полой осесимметричпой детали с цилиндрического источника осаждения, установленного на ее оси, например в процессе вакуумного осаждения покрытия.
Целью изобретения является повышение точности при контроле толщины покрытия полой осесимметричной детали за счет учета реальных условий формирования покрытия.
На фиг.1 изображено устройство для получения покрьп-ий в вакууме; на фиг, 2 - схема формирования покрытия.
Устройство, реализующее способ, содержит полую осесимметричную деталь
1, источник 2 осаждения цилиндриче- . ской формы, установленньп на оси полой осесимметричной детали 1, узел 3 крепления ее и источника 2 осаждения, вакуумную камеру 4 и источник 5 тока.
Способ осуществляется в следующей последовательности.
При прохождении тока от источника 5 тока разогревают источник 2 осаладе- ння. В результате разогрева происходит испарение и перенос паров вещества рт источника 2 осаждения к внутренней поверхности полой осесимметричной детали 1 с последующей конденсацией паров и образование покрытия.
Перед началом испарения вещества определяют плотность j вещества источника 2 осаждения, плотность вещества покрытия полой осесш 1етричсл
С5
00
оо
ном детали 1 , начальньп диаметр d источника 2 осаждения на одном из его участков, расстояние от центра источника осаждения до покрываемой поверхности (диаметр D отверстия полой осесимметричной детали 1). После нанесения покрытия измеряют текущий диаметр d источника 2 осаждения и определяют толщину покрытия по соотношению
b К
где К
4U Тисп t покр
Способ позволяет контролировать толйХину покрытия на любых участках полой осесимметричной детали 1 независимо от равномерности расхода вещества с различных участков цилиндрического источника 2 осаждения.
Формула изобретения Способ определения толщины покрытия, заключающийся в том, что измеряют количество израсходованного на покрытие вещества, а также расстояние от центра источника осаждения до покрываемой поверхности и плотность вещества покрытия, и с учетом их определяют толщину покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при контроле толщины покрытия полой осесимметричной детали, источник осаждения вьтолняют цилиндрической формы и устанавливают на оси контролируемой детали, предварительно определяют плотность вещества источника осаждения и его начальный диаметр, а количество израсходованного вещества определят с их учетом по изменению текущего диаметра источника осаждения.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ | 2020 |
|
RU2753846C1 |
Способ контроля толщины покрытия в процессе его химического осаждения на деталь | 2017 |
|
RU2665356C1 |
Способ нанесения покрытий в вакууме на внутреннюю поверхность длинномерных цилиндрических изделий | 2021 |
|
RU2786493C1 |
МАГНЕТРОННОЕ РАСПЫЛИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО | 2018 |
|
RU2747487C2 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОКРЫТИЯ ИЗ КАРБИДА ТИТАНА НА ВНУТРЕННЕЙ ПОВЕРХНОСТИ МЕДНОГО АНОДА ГЕНЕРАТОРНОЙ ЛАМПЫ | 2015 |
|
RU2622549C2 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СКОРОСТИ ИСПАРЕНИЯ АКТИВНОГО ВЕЩЕСТВА С ПОВЕРХНОСТИ ТЕРМОЭМИССИОННОГО КАТОДА | 2024 |
|
RU2825662C1 |
Способ получения покрытий на металлических поверхностях | 2002 |
|
RU2224826C1 |
ПРИЖИМ ДЛЯ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО НАНЕСЕНИЯ ПОКРЫТИЯ | 2002 |
|
RU2210639C1 |
УСТРОЙСТВО УПРАВЛЕНИЯ ДЕТОНАЦИОННЫМ НАРАЩИВАНИЕМ ТОЛЩИНЫ ЛИНЕЙНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ | 2012 |
|
RU2534234C2 |
Способ электроосаждения покрытий | 1988 |
|
SU1544844A1 |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения толщины покрытия, наносимого на внутреннюю поверхность полой осесимметричной детали с цилиндрического источника осаждения, установленного на оси. Целью изобретения является повышение точности при контроле толщины покрытия за счет учета реальных условий формирования покрытия. Перед началом испарения вещества определяют плотность вещества источника осаждения, плотность вещества покрытия, начальный диаметр цилиндрического источника осаждения и диаметр отверстия полой осесимметричной детали, на которую наносят покрытие. После нанесения покрытия измеряют текущий диаметр источника осаждения. С учетом указанных параметров определяют толщину покрытия. 2 ил.
Фиг.1
Фиг. г
Пленочная микроэлектроника | |||
Под ред | |||
Л.Холлэнда, - М.: Мир, 1968, с.261-272. |
Авторы
Даты
1989-10-23—Публикация
1987-10-16—Подача