Способ определения ориентации монокристаллов Советский патент 1989 года по МПК G01B9/10 

Изобретение относится к кристаллографии и кристаллофизике, а именно к способам определения ориентации кристаллических структур кубического кристалла со спайностью по кубу (100), октаэдру (111) или тетраэдру относительно его геометрической формы для последующей работы с ним.

Цель изобретения - повышение экс- прессности и информативности способа.

.Способ заключается в следующем.

Монокристалл ориентируют посредством микроскопа таким образом, чтобы плоскость среза монокристалла была перпендикулярна линии визирования, Наносят на кромку монокристалла мик- ровыбоинку. Вращая окуляр микроскопа, измеряют углы, являющиеся проекциями на плоскость среза углов между линией пересечения плоскостей спайности и линиями пересечения плоскостей спайности с плоскостью среза. Грани мик- ровыбоинки являются кристаллографическими плоскостями, угол между которыми является и-звестным углом спайности 0 , зав1исящим от спайности монокристалла по кубу (001) или по октаэдру (111).

Далее измеряют углы р, и ft, являющиеся проекциями на плоскость среза углов между линией пересечения -плоскостей спайности и линиями пересечения плоскостей спайности с плоскостью среза, путем по- . следовательного совмещения риски объектива микроскопа с указанными линиями. Затем рассчитывают направляющие косинусы плоскостей, ограничивающих - микровыбоинку по следующим зависимостям:

СЛ

|чЭ Is9

iNd

p.,m 4 r.,n + w ;, q

1

г

p.,m + ri,n + w ;, q A

m + n + q 1, где m, n, q - направляющие косинусы

плоскости среза} р

11

Н

W

tV

и

PJJ, г, , W j - направляющие косинусы плоскостей, ограничивающих .выбоин ку AJ и Aj - постоянные, рассчитываемые по соотношениям:

-I

,- tg /s

,

Указанные направляняцие косинусы позволяют определить ориентацию монокристалла. Формула изобретения

Способ определения ориентации монокристаллов, заключающийся в том,

что с помощью оптического прибора относительно плоскости спайности измеряют угловые величины и направляющие косинусные плоскости среза, по которым находят ориентацию монокристалла, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности и информативности способа, монокристалл посредством микроскопа ориентируют так, что ; плоскость среза перпендикулярна линии визирования, наносят на кромку монокристалла микровыбоинку и измеряют углы, являющиеся проекциями на плоскость среза углов между линией пересечения плоскостей спайности и линиями пересечения плоскостей спайности с плоскостью среза.

Изобретение относится к кристаллографии, а именно к способам определения ориентации кристаллических структур кубического кристалла. Целью изобретения является повышение экспрессности и информативности определения. Монокристалл ориентируют посредством микроскопа таким образом, чтобы плоскость среза монокристалла была перпендикулярна линии визирования, наносят на кромку монокристалла микровыбоинку. Затем измеряют углы, являющиеся проекциями на плоскости среза углов между линией пересечения плоскостей спайности с плоскостью среза, и рассчитывают направляющие косинусы плоскости среза, которые однозначно определяют ориентацию монокристалла.