Способ определения температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава Советский патент 1990 года по МПК G01N25/02 

Описание патента на изобретение SU1543319A1

Изобретенио относится к физико- химическому анализу материалов, а именно к способам определения температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава.

Цель изобретения - повышение эффективности за счет определения температуры и момента начала кристаллизации в негтационарнъгх условиях при охлаждении раствора-расплава элгмоптов Ш(А1М ) и У(ВУ ) групп периодической системы.

Способ осуществляется следующим образом.

Производят определение температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава мышьяка в галлии. Дпя этого берут чистый Ga весом Р 500 мг и подложку монокристаллического GaAs размером 10x50 мм и размещают их в графитовой кассете изолированно друг от друга. Подложку размещают в специально предназначенном гнезде подвижного слайдера так, чтобы при перемещении ее в сторону ячейки с расплавом она двигалась бы вдоль своей длинной стороны (50мм). Ga помещают в ячейку, имеющую длину 1 мм в направлении перемещения и ширину 5 мм в перпендикулярном направлении. Всю систему нагревают при помощи печи сопротивления в кварцевом реакторе в .атмосфере водорода до начальной температуры Т° 1000°С. Затем начинают охлаждать систему со скоростью (по показаниям термопары) У01(Л 0,7°С/с и одновременно перемещают раствор-расплав по поверхности подложки-кристалла GaAs со скоростью 0,1 мм/с. После охлаждения до комнатной температуры подложку вынимают из ректора и изучают профиль ее по- .верхности под микроскопом, так как ширина раствора-расплава меньше шири- ны подложки, профиль травления имеет вид канавки переменной, вдоль направления движения, глубины, которая определяется, как перепад высот у края канавки. В ряде экспериментов было установлено, что в пределах погрешности микроскопа глубина травления постоянна по ширине и меняется линейно по длине канавки от максимальной у края подложки до нулевой в точке перехода травления в кристаллизацию. Тогда объем растворившегося арсени- да галлия можно найти по формуле

1

V

abc 2

где а - ширина канавки, мм;

Ъ - расстояние от края подложки до точки перехода травления в кристаллизацию, мм; с - глубина канавки у края подложки, мкм.

Величина а и b измеряют с точностью 10,1 мкм, а величину С определяют, изучая интерференционную картину на поверхности подложки, с точностью t 0,2 мкм.

В данном случае а 5 мм, b 42,5 мм, с 8,8-10 мм, следовательно, V 0,94 мм3.

Затем определяют вес растворившейся части по формуле Р pV,

19где

р - плотность GaAs,

р 5,4 г/см3 5,4 мг/мм3,

Р 5,4-0,94 5,05 м.

и пересчитывают его в концентрацию

As по формуле

1

jj 2Q 5

10 где

Г+2г4,9 10-у

По равновесной фазовой диаграмме состояний определяют температуру Т 680°С. Эта температура равна температуре начала кристаллизации раствора-расплава в момент времени, определяемый по формуле

t -Л

V,

425

с.

Формула изобретения

Способ определения температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава элементов III (Аи ) и V(BV) групп периодической системы, включающий контакт кристалла соединения А В с известным

IV

количеством коиэмерение , перешедшего

расплава элемента А личества соединения в расплав с образованием насыщенного раствора, и определение температуры начала кристаллизации раствора-расплава по равновесной фазовой диаграмме, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности за счет определения температуры и момента начала кристаллизации в нестационарных условиях при охлаждении раствора-расплава, расплав элемента А охлаждают и одновременно перемещают, начиная с момента-контакта,

HI у

по поверхности кристалла А В с постоянной скоростью Vx, устанавливаемой из условия 0,002 мм/с t v,, с .50 мм/с, причем количество соединения, перешедшего в раствор-расплав, определяют по объему растворившегося кристалла А|МВ а момент начала кристаллизации рассчитывают, исходя из скорости перемещения расплава и длины растворенной поверхности кристалла А1 В

Похожие патенты SU1543319A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ И МОМЕНТА НАЧАЛА КРИСТАЛЛИЗАЦИИ РАСТВОРА-РАСПЛАВА 1989
  • Абрамов А.В.
  • Дерягин Н.Г.
  • Долганов А.В.
  • Селиверстов О.В.
  • Третьяков Д.Н.
SU1602183A2
Способ единовременного получения p-i-n структуры GaAs, имеющей p, i и n области в одном эпитаксиальном слое 2015
  • Крюков Виталий Львович
  • Крюков Евгений Витальевич
  • Меерович Леонид Александрович
  • Стрельченко Сергей Станиславович
  • Титивкин Константин Анатольевич
  • Николаенко Александр Михайлович
RU2610388C2
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СЛОЕВ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ 1989
  • Абрамов А.В.
  • Дерягин Н.Г.
  • Долганов А.В.
  • Мизеров М.Н.
  • Селиверстов О.В.
  • Третьяков Д.Н.
SU1589918A1
Способ определения краевого угла смачивания 1983
  • Абдурахманов Юнусбек Юсупбекович
  • Баранов Алексей Николаевич
  • Бессолов Василий Николаевич
  • Яковлев Юрий Павлович
SU1087834A1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СТРУКТУР С ЗАХОРОНЕННЫМ МЕТАЛЛИЧЕСКИМ СЛОЕМ 1992
  • Двуреченский А.В.
  • Александров Л.Н.
  • Баландин В.Ю.
RU2045795C1
Способ получения низколегированного слоя GaAs методом жидкофазной эпитаксии 2020
  • Крюков Виталий Львович
  • Крюков Евгений Витальевич
  • Титивкин Константин Анатольевич
  • Шумакин Никита Игоревич
RU2727124C1
Способ получения полупроводниковых структур методом жидкофазной эпитаксии с высокой однородностью по толщине эпитаксиальных слоев 2016
  • Крюков Виталий Львович
  • Меерович Леонид Александрович
  • Николаенко Александр Михайлович
  • Стрельченко Сергей Станиславович
  • Титивкин Константин Анатольевич
  • Шумакин Никита Игоревич
RU2638575C1
Способ получения многослойных гетероэпитаксиальных структур в системе AlGaAs методом жидкофазной эпитаксии 2016
  • Крюков Виталий Львович
  • Крюков Евгений Витальевич
  • Меерович Леонид Александрович
  • Николаенко Александр Михайлович
  • Стрельченко Сергей Станиславович
  • Титивкин Константин Анатольевич
RU2639263C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛЯРНЫХ ГРАНЕЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СОЕДИНЕНИЙ 1994
  • Денисов В.М.
  • Овчинникова Т.Ю.
  • Бахвалов С.Г.
RU2105286C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ НА ОСНОВЕ СОЕДИНЕНИЙ AB МЕТОДОМ ЖИДКОФАЗНОЙ ЭПИТАКСИИ 2005
  • Солдатенков Федор Юрьевич
RU2297690C1

Реферат патента 1990 года Способ определения температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава

Изобретение относится к физико-химическому анализу материалов, а именно к способам определения температуры и момента начала кристаллизации раствора-расплава. Цель изобретения - повышение эффективности за счет определения температуры и момента начала кристаллизации в нестационарных условиях при охлаждении раствора-расплава элементов III (AIII) и Y (BV) групп Периодической системы. Известное количество расплава элемента III группы приводят в контакт с кристаллом соединения AIIIBV с началом одновременного охлаждения и перемещения расплава по кристаллу с постоянной скоростью VX, устанавливаемой из условия 0,002мм/с≤VX≤5,0мм/с. Сочетание перемещения раствора-расплава по кристаллу с охлаждением приводит к тому, что растворение и кристаллизация происходят на разных частях кристалла, а расположение границы между этими частями определяет положение раствора-расплава в момент достижения насыщения, которое однозначно связано с временем через скорость. Количество соединения AIIIBV, перешедшее в жидкую фазу, определяют путем измерения профиля глубины травления кристалла. С учетом равновесной фазовой диаграммы исходя из концентрации насыщенного растора-расплава, рассчитывают температуру нач

Формула изобретения SU 1 543 319 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1543319A1

Данашевский С.К., Сведе-1 1вец Н.И
Высокотемпературные термопары
М.: Металлургия, 1977, с
Сепаратор-центрофуга с периодическим выпуском продуктов 1922
  • Андреев-Сальников В.Д.
SU128A1
Способ определения тепмературы 1976
  • Абрамов Александр Владимирович
  • Мишурный Вячеслав Андреевич
  • Никитин Виктор Георгиевич
  • Третьяков Дмитрий Николаевич
SU574632A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 543 319 A1

Авторы

Абрамов Александр Владимирович

Долганов Алексей Витальевич

Мизеров Михаил Николаевич

Селиверстов Олег Валентинович

Третьяков Дмитрий Николаевич

Даты

1990-02-15Публикация

1988-02-25Подача