Способ неразрушающего металлографического контроля Советский патент 1990 года по МПК G01N1/28 

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля, в частности микроструктуры крупногабаритных и дорогостоящих изделий и металлоконструкций, например крановых и железнодорожных колес, ножей для резки металла, кожухов и холодильных плит доменных печей, корпусов Конвертеров, подкрановых балок и т.п.

изобретения - упрощение способа контроля.

Для достижения поставленной цели предусматривается проведение следующих операций: подготовка шлифа непосредственно на изделии (например, на поверхности катания обода Kpa iOBoro колеса), травление и снятие отпечатка с микроструктуры на образец-свидетель из полимерного материала, поверхность которого перед снятием отпечатка смачивают растворителем для растворения его поверхности. Микроструктуру, отпечатанную на образце-свидетеле, изучают

на оптическом микроскопе при необходимом увеличении.

Пример. Для снятия отпечатка с микроструктуры на поверхности катания обода кранового колеса диаметром 800 мм на выбранном участке обычным металлографическим способом подготовили шлиф, протравили его 4%-ным раствором азп-ной кислоты в спирте. Образец-свидетель из полистирола марки «Д ГОСТ 9440-79 размером 10X10X15 мм прищлифовали по поверхности 10X10 мм до чистоты 3, на прошлифованную поверхность нанесли кисточкой равномерный слой бензола ГОСТ 8448-78. Поверхность образца-свидетеля, смоченную бензолом, растворяют на глубину 50- 100 мкм и плотно прижимают растворенной поверхностью к протравленному участку на ободе колеса. Отпечаток был готов через 30 мин после затвердевания раствоо:

Ч ее го

«л

рЬнного слоя образца-свидетеля. После этого образец-свидетель легко снимается с конт- рэлируемого участка. Микроструктуру, отпечатанную на образце-свидетеле из полистирола, контролировали на оптическом мик- рЬскопе при увеличении ХЮО и Х500. : Использование предложенного способа уп- рЬщает технологию контроля микрострукту- р|ы на изделиях, металлоконструкциях, постольку отпадает необходимость в электро- Нолировании контролируемого участка, исключается напыление и снятие реплик с микроструктуры.

Формула изобретения

Способ неразрушающего металлографического контроля, включающий получение щлифа непосредственно на изделии, травление, снятие отпечатка и исследование структуры под микроскопом, отличающийся тем, что, с целью упрощения контроля, отпечаток снимают на образце-свидетеле из полимерного материала, поверхность которого перед снятием отпечатка смачивают растворителем, а исследование структуры ведут под оптическим микроскопом.

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля, в частности, микроструктуры крупногабаритных и дорогостоящих изделий и металлоконструкций. Целью изобретения является упрощение способа контроля. Изобретение предусматривает подготовку шлифа на изделии, травление, снятие отпечатка с микроструктуры и исследование ее под микроскопом. Новым в способе является то, что отпечаток микроструктуры получают на образце-свидетеле из полимерного материала, предварительно смоченного растворителем для растворения его поверхности. Изобретение позволяет исключить операцию электрополирования, напыления и снятия реплик.