Способ измерения профиля поверхности Советский патент 1991 года по МПК G01B5/03 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к области контроля геометрических параметров сложных поверхностей при помощи координатных измерительных машин.

Цель изобретения - повышение точности измерений.

На чертеже представлена схема измерения.

На схеме обозначены координаты Хцорп, Z корп измерительной головки, координаты X и Z контролируемой точки, составляющие R, R усилия измерения .

Способ измерения осуществляют следующим образом.

Перемещением измерительной головки вводят измерительный наконечник радиусом г в силовое замыкание с контролируемой поверхностью, в результате чего он упруго перемещается относительно корпуса головки.Фиксируют координаты перемещения головки хкорп ZKoprv Фиксируют величины составляющих усилии по каждой координате R, RZ. Определяют величины упругого перемещения измерительного наконечника по каждой координате,принимая во внимание его жесткость:

Д.Х Rx/0y ;

UZ Rz/Ј2, где $

Ј - жесткость измерительного наконечника в направлении соответ ствующих координат.

Определяют координаты контролируемой точки поверхности

Х Хкорп ДХ; Z ZKopn -&Z.

Определение третьей координаты осуществляют аналогичным образом.

О)

оо со со

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контролю геометрических параметров сложных поверхностей при помощи координатных измерительных машин. Цель изобретения - повышение точности измерения. Перемещением измерительной головки вводят измерительный наконечник в силовое замыкание с контролируемой поверхностью, фиксируют координаты перемещения головки., фиксируют величины составляющих усилий по каждой координате, определяют величины упругого перемещения наконечника по каждой координате и по полученным данным определяют координаты точек контролируемой поверхности относительно центра сферы наконечника. 1 ил.