Способ определения межэлектродного зазора Советский патент 1981 года по МПК B23P1/14 

Известен способ определения межэлектродного зазора при помощи дополнительного .низковольтного источника питания, когда элекгроды после прек;ращения троцесса обработки перемещают до момента короткого замыкания между ними.

Однако в условиях электроэрозионного шлифования такой способ не позволяет получить достаточно точные данные по зазору, так как при данном процессе имеет место и чистовая злектроконтактная обработка, что при различных толожениях детали и круга приводит к различным данным по зазору.

Кроме того, нежесткость системы СПИД приводит к дополнительной погрешности при замере зазора.

Цель изобретения - повышение точности определения зазора.

Это достигается тем, что предварительно шлифуют пакет специальных О бразцов под один размер, после чего часть О1бразцов изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему шлифованию до тех пор, пока процесс не пр-екратится или параметры прощесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектродный зазор определяют как псрепад между изолированными и неизолированными образцами.

Такой (Способ inojBbimaeT точность определения межэлектродного зазора.

На чертеже изображен специальный пакет образцов, при помощи которого осуществляется иредлагаемый процесс.

Сущность способа состоит в следующем.

Изготовляют специальный пакет образцов, состоящий из стальной оправки 1, на которую посажены три диска (образцы) 2, 3, 4, изготовленные из того же материала, что и детали. Средний диск 3 имеет постоянный контакт с оправкой. Крайние диски 2 я 4 изолированы от 0редне-го диска 3 текстолитовыми шайбами 5, а от оправки изолированы втулками 6. С двух сторон фланца втулок 6 положены медны-е шайбы 7 и 8 с усиками 9, 10. Если усики шайб спаялись между собой, то диски будут иметь контакт с оправкой. Ток к оправке от источника питания подводится через задний

центр станка. Пакет образцов со опа;янными усиками 9, 10 устанавливают в центрах станка и производят многопроходное шлифование дисков под один диаметр.

прошлифовки дисков под один диаметр усики распаиваютх;я, и пакет образцов шлифуется далее. В этом случае обрабатываться будет только средний диск. Обработку в&дут до тех пор, пока процесс совсем не прекратится или параметры процесса не достигнут заданного предела. После этого пакет об разцов снимается со станка, тщательно промывается и определяется разность диаметров среднего и крайних дисков. Половина этой величины и будет равна межэлектродному зазору.

Пакет образцов может быть неоднократно использован для определения зазора в различных условиях и режимах.

Формула изобретепия

Способ определения межэлектродного зазора лр:и многопроходном электроэрозио,нио.м шлифован/ИИ, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности определения зазора, предварительно шлифуют па кет специальных образцов под один размер, после чего часть образцов изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему шлифованию до тех пор, пока процесс не прекратится или параметры процесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектродный зазор определяют как перепад между изолированными и неизолированными образцами.