Способ определения размера дефекта в направлении просвечивания Советский патент 1977 года по МПК G01N23/04 

Описание патента на изобретение SU577442A1

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА

в НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ

то отношение суммарных интенсивносгей света будет стремиться к единице приЗ- сю и изображение дефекта сольется с фоном.

Аналогичным образом уменьшается конт растность изображения канавок дефектометра. Это позволяет заменить многократное радиографирование с последовательно уменьшающимися экспозициями рассматриванием одного первоначального снимка. При этом точность определения глубины дефектов

возрастает, а трудоемкость снижается. .

Определение глубины дефекта производит

я путем радиографирования дефектного учаска изделия и дефектометра таким образом, чтобы просвечиваемая толщина материала в месте расположения дефекта и в месте расп ложения дефектометра была одинаковой. Пос |)отообработкн готовый снимсж изделия и дефектометра (или поочередно) помещают перед основным источником света при выключенном дополнительном источнике и находят изображение дефекта. Включив дополнительный источник света, постепенно увелинивают его Яркость, добиваясь исчезновения изображения дефекта. Отсчитывая номер наиболее глубокой канавки дефектометра, которая также на видна, находят размер дефекта, равного известной глубине этой канавки.

Введение дополнительного светового потока между пленкой и наблюдателем (см. чертеж) осуществляют, например, с помощью прозрачного стекла 1, отражающего свето вой поток 2 от бсжсжого источника света . в сторону наблюдателя 3 и пропускающего основной световой поток 4, прошедщий через пленку 5. Угол наклона и расположение стекп& выбирают такими, чтобы изображения источников в точке наблюдения совпадали. Это позволяет уменьщить влияние неравномерности световых потоков на точность определения размера дефектов.

Яркость дополнительного и основного источников света регулируют, например, с помощью реостата.

Формула изобретения

Способ определения размера дефекта в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений дефекта и канавсж дефектометра при просмотре рентгенограмм в проходящем свете,-о тличающийс я тем, что, с целью повыщения экспрессности, создаю дополнительный световой потокч переменной мощности в направлении наблюдателя и, плавно повышая его интенсивность до исчезновения изображения дефекта и соответствующей канавки дефектометра, устанавливают размер дефекта по размеру наиболее глубшой канавки дефекто метра, изображение которой пропадает при тех же условиях наблюдения.

Источники информации, принятые во вниманиепри экспертизе о.

1.Румянцев С. В. Применение радиоавти ных изотопов в дефектоскопии, М. Госатомиа дат. I960.

2.Румянцев С. В., Радиационная дефекте скопия, Атомиздат, 1968, с. 263.

3.Токмаков В. С.,Мойщ Ю, В. Рентген« скопия в металлургии, М., Металлургия, 1976, с. 53.

4.Авторское свидетельство СССР

№ 458744, М. кл. Q 01 N 23/О4, 1974.

Похожие патенты SU577442A1

название год авторы номер документа
Устройство для определения размеров дефекта 1980
  • Бобков Владимир Григорьевич
SU935756A1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2313080C1
Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий 1973
  • Трубин Виктор Федорович
  • Тощев Александр Михайлович
  • Дьяков Михаил Павлович
  • Хабибулин Ринат Хисматулович
SU458744A1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2315979C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2243541C2
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Антипов Владимир Семенович
RU2392609C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2240538C2
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ПЕРЕМЕННОГО СЕЧЕНИЯ 1988
  • Зуев В.М.
  • Табакман Р.Л.
SU1526381A1
СПОСОБ ДЕФЕКТО-СТРУКТУРО-РЕНТГЕНОГРАФИИ 2004
  • Зуев Вячеслав Михайлович
RU2271533C1
Способ визуально-оптического контроля поверхности 2020
  • Харитонов Дмитрий Викторович
  • Терехин Александр Васильевич
  • Амосов Алексей Игоревич
  • Тычинская Мария Сергеевна
  • Анашкина Антонина Александровна
  • Типикин Максим Евгеньевич
  • Русин Михаил Юрьевич
  • Хамицаев Анатолий Степанович
RU2746674C1

Иллюстрации к изобретению SU 577 442 A1

Реферат патента 1977 года Способ определения размера дефекта в направлении просвечивания

Формула изобретения SU 577 442 A1

()

()

SU 577 442 A1

Авторы

Загайнов Николай Иванович

Михалицын Дмитрий Дмитриевич

Даты

1977-10-25Публикация

1976-06-21Подача