Устройство для измерения термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов Советский патент 1975 года по МПК G01N25/30 

тор 8 имеет окно 9. Электроды 3 н 4 лутсм отводов 10 ирнсоедюшются к прибору-ре:ч: стратору термо-э.д.с. (потенциометру клк уеклителю постоянного тока).

Предложенное устройство 1юзЕол.-;ст i nieрять термо-э.д.е. несколькнмн снособами. Про стейшим нз них, удобным для быстрой оцен-кн знака термо-э.д.с. н нзлучения влияния на нее атмосферы, является способ, при котором создают перепад температур проточной водой или за счет разности масс электродов пр- постоянной скорости нагрева нечи. Подборо:. масс электродов, режима нагрева нечи н нрименением жидкостного охлаждения можно добиться постоянного градиента температуры вдоль образна. Если вместо тефлона применить кварцевую трубку, то можно значительно увеличить возможный нагрев устройства.

Пред

изобретения

оетропство для измерения термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов, отличающееся тем, что, с целью проведения измерений до 250°С и исследования зависимости Tepiioэ.д.с. от усилия зажатня кристаллов, оно состоит из цилиндрического тефлонового корнуеа, в верхней части которого установлен подБнжмый электрод, выполненный в виде скользяш.его в тефлоновом цилиндре стакана из легкого металла с графитовым вкладышем, в нижней части которого установлен неподвижный латунный сборный электрод с полостью для охлаждения водой, представляющий собой жесткое соедииеиие, состоящее из матрицы, крыщки и двух трубок, и также имеющий графитовьи : вкладыш.

..; : tSi: