Испытательный образец для вихретоковой дефектоскопии Советский патент 1976 года по МПК G01N27/82 

Изготавливают предлагаемый испытатель иый образец следующим способом.

Выбирают материал, форму и размеры имитатора дефекта, прикрепляют его к поверхности бездефектного электропроводя- щего изделия (или-имитатора) и снимают изменение выходного напряжения преобразователя дефектоскопа при прохождении через него испытательного образца. После этого, изменяя материал, размеры и форму ими- татора дефекта, добиваются того, чтобы изменение выходного напряжения преобразователя дефектоскопа было бы идентичным при прохождении через него предлагаемого испыгательного сбраэда и образца с дефектом в виде углубления в теле изделия. Затем уточняют размеры имитатора дефекта, вьшолиенного в виде твердого тела, и изготавливают всю партию испытательных образцов, при этом легко достигается идентичность всей партии.

Преимуществом предлагаемого испытательного образца является простота изготовле- ,хорошая воспроизводимость и повышенная механическая стойкость, особенно по срав

нению с образцами, изготовленными из твер- дых и хрупких материалов, например карбидов.

Формула изобретения

Испытательный образец для вихретоковой дефектоскопии, содержащий имитатор изделия из электропроводящего материала, отличающийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления, он снабжен имитатором дефекта, вьшолненным в виде твердого тела из электропровод апце- го и/или магнитного материала и механически соединенным с поверхностью имитатора бездефектного изделия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Дефектоскопия, 1969, № 3,103.

2.Дефектоскопия, 1974, № 1,120.

3.Электромагнитные методы неразру- шакнцего контроля . Под ред. Дорофеева А.Л. Минск,Наука и техника , 1971, стр.196.

7

А Фиг. 1

X - д

иг.2