Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру Советский патент 1976 года по МПК G01N23/20 

1

Изобретение относится к высокотемпературной рентгеновской дифрактометрии.

Известна камера-приставка, содержащая корпус, в котором расположена стойка с фиксирующей поверхностью; к последней поджимается образец, причем устройство прижима расположено в камере 1.

Однако такая камера не может использоваться для высокотемпературного анализа.

Известны высокотемпературные камерыприставки, в которых измеритель температуры во время рентгенографирования поджат к образцу 2.

Известна высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру, содержащая вакуу.мированный корпус с окном для прохождения рентгеновских лучей, вертикальную стойку с фиксирующей положение образца поверхностью, механизм прижима образца к фиксирующей поверхности стойки, нагреватель, блок экранов с отверстиями для стойки и для прохождения рентгеновских лучей, измеритель температуры 3. Механизм прижима выполнен в виде второй стойки, упруго поджимаемой к образцу, причем упругий механизм расположен в низкотемпературной зоне или выведен за пределы вакуумной камеры.

Недостатки такой камеры - неудобство прижима образца с помощью вертикальной

стойки, в результате чего габариты камеры увеличиваются, появляется необходимость регулирования положения стойки во время эксперимента для обеспечения однородного давления на образец.

Цель изобретения - уменьшение массы камеры, обеспечение надежного прижима образца и стабильных условий измерения температуры.

Это достигается тем, что в предлагаемой камере-приставке механизм прижима образца выполнен рычажно-весовым, причем щарнир механизма установлен в корпусе вне блока экранов.

На чертеже показана предлагаемая камераприставка (прижимный рычаг выполнен из материала одного из электродов термопары). Исследуемый образец 1 выполнен в виде пластины произвольной формы по контуру.

Минимальная толщина образца определяется необходимой прочностью пластины только при изготовлении и монтаже и постоянством формы при нагреве. Образец размещен на рабочем торце вертикальной стойки 2, выполненной из материала, совместного с материалом образца при температурах исследования. Базовая (горизонтальная) и фИКсирующая (вертикальная) поверхности, выполненные на рабочем торце тонкостенной стойки П-образного сечения, расположены, например, под прямым углом и обеспечивают линейный контакт с исследуемым образцом. Второй конец стойки 2 закреплен неподвижно с необходимой электроизоляцией на вакуумном корпусе 3 камеры-приставки. Прижим образца к фиксирующей плоскости стойки осуществляется рабочим плечом 4 рычага 5, щарнирно закрепленного преимущественно, вне блока экранов 6, а усилие прижима образца к фиксирующей поверхности стойки обеспечивается массой рычага и/или дополнительным грузом 7, расположенным на втором плече 8 рычага.

Такое устройство механизма прижима позволяет одновременно создать стабильные условия измерения температуры. Рабочее плечо 4 рычага 5, или весь рычаг, изготовлено из материала, например вольфрама, являющегося одним из электродов термопары, а второй электрод 9 термопары закреплен на контактирующей с образцом поверхности рычага таким образом, что прижим образца осуществляется через термоэлектродный спай термопары. Прижимный рычаг может быть выполнен различным образом, например в виде вилочной конструкции (в этом случае прижим и измерение температуры осуществляются в нескольких точках на поверхности образца), и т. д., причем очевидно, что указанные модификации не выходят за рамки изобретения.

При использовании в качестве одного из электродов тер(мопары вертикальной стойки 2 условия установки второго электрода на стойке должны быть аналогичны приведенным выше, а измерение температуры образца производится, преимущественно с исследуемой поверхности 10 образца 1.

В связи с применением в предлагаемой конструкции рычажно-весового устройства для прижима исследуемого образца к стойке через термочувствительный спай термодатчика обеспечено постоянное усилие прижима образца и надежный тепловой контакт датчика температуры с исследуемой поверхностью независимо ни от температуры на образце, ни от материала образца, ни от различного рода термических поводок при нагреве, а, кроме того, рычажно-весовой механизм может быть выполнен весьма -компактным, что позволяет снизить вес камеры и улучшить условия нагрева.

Формула изобретения

Высокотемпературная камера-приставка к

рентгеновскО(Му дифрактометру, содержащая вакуумированный корпус с окном для прохождения рентгеновских лучей, вертикальную стойку с фиксирующей положение образца поверхностью, механизм прижима образца к

фиксирующей поверхности стойки, нагреватель, блок экранов с отверстиями для стойки и для прохождения рентгеновских лучей, термопару, отличающаяся тем, что, с целью уменьшения массы устройства, обеспечения

надежного прижима образца и стабильных условий измерения температуры, механизм прижима образца выполнен рычажно-весовым, причем шарнир механизма установлен в корпусе.

2. Камера по п. 1, отличающаяся тем, что щарнир установлен вне блока экранов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Патент США № 2580931, кл. 250-51.5, 1952.

2.Финкель В. А. Высокотемпературная рентгенография металлов. М., «Металлургия 1968, с. 42-59.

3.Авт. св. СССР № 457913, кл. G 01п 23/20, 1975 (прототип).

--6

- 7