Устройство для статистического контроля логических блоков Советский патент 1978 года по МПК G06F11/00 

обработки результатов измерений, выход которого соединен со входом блока индикации. На чертеже приведена блок-схема предлагаемого устройства. Устройство для контро;|я логических блоков содержит генератор 1 случайных чисел, преобразователь 2 случайных чисел, проверяемый логический блок .3, амплитудный дискриминатор 4, коммута-тор 5 выходных сигналов, блок 6 ческих анализаторов, емкостной шуп 7, матрицу 8 .термодатчиков, коммутатор 9 термодатчиков, измерительный прибор Ю, блок 11 обработка результатов измерений, блок, 12 индикации, блок 13 управления, блок 14 ввода данных, пульт 15 управления. Выходы генератора 1 случайных чисел через : преобразователь 2 случайных чисел связаны со входамипроверяемого ло гического блока 3, выходы которого соединены с амплитудным дискриминатором и через коммутатор 5 выходных сигнало со входами блока 6 статистических анализаторов. Входы,блока 6 статист1мес ких анализаторов соединены также с . емк стным ujynoM 7, имеющим емкостную ёбязь с проверяемым логическим блоком 3. Матрица 8 термодатчиков, имеющая тепловую связь с проверяемым логическим блоком 3, через комьфтатор 9 термодат чиков соединена с входом измерительного прибора 1О. Выходы блока 6 сп-атистических анштизаторов и измерительно-ГО прибора 10 соединены с входом блока 11 обработки результатов из ifёрений, выходы которого соединены с блоком 12 индикацш. Блок 13 управления связан .с генератором 1 случайных чисел, амплиту ным дискриминатором . 4, коммутатором 5 выходных сигналов, -коммутатором 9 термодатчиков, блоком 11 обработки результатов измерений, блоком 6 статистичес ких анализаторов и с блоком 14 ввода данных, выходы которого. соединены также с преобразователем 2 случайных чисел. Пульт 15 управления связан с бл ком 14 ввода данных и блоком 12. индик ции. Устройство для контроля логических блоков работает следующим образом. Последовательность сигналов, вырабатываемая генератором 1 случайных чисел и преобразованная в соответствии с необходимым законом распределения в преобразователе 2 слу1айных чисел, поступает на входы лоп-гческого блока 3. Оценки математических ожиданий сигНЯЛОП ия hKivnnwv тrn -lFюnao /(Гlrч пгггмга Э 5 выходных сигналов, подсчитываются в блоке 6 статистических анализаторов и сравниваюася с заданными значениями в блоке 11 обработки результатов наблюдений. При отютонениях подсчитываемых оценок в сторону превышения заданных вейичин или при несоответствии заданных уровней выходных сигналов, контролируемых амплитудным дискриминатором 4, в блок 12 индикации поступает сигнал о наличии неисправности в проверяемом логическом блоке 3. Кроме того, тбук как тепло Q , выделяемое кагкдой микросхемой, определяется вероятностями единич- Р и переходного Р состояний ее выходных каскадов QC + ., где Су , С,, , Са - некоторые постоянные для данного типа микросхем, f - рабочая частота проверки, то для каждого конкретного распрадепення вероятностей входных сигналов, определяющего установившийся термодинамический режим в проверяемом логическом блоке 3;несоответ- ствие набгаодаемых и эталонных температур свидетельствует, о наличии неисправности в проверяемом логическом блоке 3. В данном устройстве контроля значения температуры микросхем, снимаемые матрицей 8 термодатчиков последовательно с помощью коммутатора 9 термодатчнков, измеряются, измерит.ельным прибором 10 и после корректирования в блоке 11 обработки резулыгатов измерений с учетом индивидуальных характеристик каяодого термодатчика и температуры несущей платы сравниваются с эталонными значениями, полученными ранее физическим моде лированием на исправном логическом блоке. При локализации неисправностей с точностью до корпусов микросхем физическое моделирование всех неисправностей затруднено ввиду одновременного измерения тепловых .режимов; как исправных, так и неисправных микросхем из-за наличия тепловых электронных-связей между ними. В этом случае величины вероятностей PJ и PJ-J подсчитываются в блоке 6 статистических анализаторов на основании сигналов, снимаемых с выходов микросхем при помощи емкостного шупа 7, и передаются в блок 11 обработки результатов измерений для определения по формуле (1) эталонных значений температур. Несовпадение эталонно и снимаемой термодатчиком температур гоL- lirvTViril-

БопьШая рабочей частота проверки f (около 1 МГа), необходимая для эффективной работы емкостного щупа и . шоделировання на основании выражения (1) в Щ5вдлагаемрм устройстве контроля обеспечивается высокоскоростным генератором 1 случайных чисел.

Технико-экономическая sAdjoKTHBHOcxb предлагаемого устройства заключается в следующем: тепловык парамётроВ| мнкросхемГ,в динамическом режиме позволяет обнару йггь не только аеи- Ьправности,. изменяющие характер функциорирования проверяемого логического блока, но и скрытый брак микросхем неисправности, проявляющиеся после их непродолжительной эксплуатации; исполь аование тепловых измерений, а также емкостного щупа в динамическом режиме позволяет осушёствлять; контроль и поиск не исправностей в.схемахбез создания гальван еских связей- между внутренннмн узлами, проверяемого логического) блока н прфдлагаемым устройством контроля.

Формула изобретение

Устройство для статистического контроод лохических блоков по авт. ев, 527707, о т л и ч а ю щ е ее я тем, что, с целью поиашення достоверности и расширения функциональных возможностей , в него введены последоватедьно соединенные матрица термодатчиков, комкугатор, измерительный прибор и блол обработки результатов измерений и емкостной tiQrn, соединенный с блоком статистических анализаторов, выход котороч го соедгшен со входом блока обработки результатов измерений, аыход которого соединен со входом .блока индикации.