СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТА Российский патент 2011 года по МПК G01N23/18 

Описание патента на изобретение RU2437081C1

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений.

Известен способ определения глубины залегания дефекта путем двойного просвечивания с угловым смещением направления излучения. Глубину залегания дефекта определяют по относительному смещению его изображения на снимке при изменении направления просвечивания (см. Контроль качества сварки. Под ред. В.Н.Волченко. М., Машиностроение, 1975, стр.96).

Наиболее близким по своей технической сути к заявляемому способу является способ определения глубины залегания дефекта путем двойного просвечивания с изменением направления излучения и установкой меток: со стороны источника излучения и со стороны пленки (см. В.М.Зуев, Р.Л.Табакман, Ю.И.Удралов. Радиографический контроль сварных соединений. С-Пб., Энергоатомиздат, 2001, стр.129-130)), который принят в качестве прототипа заявляемому способу. Глубину залегания дефекта определяют по относительному смещению на снимке изображений дефекта и метки со стороны источника излучения относительно изображения метки со стороны пленки.

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является увеличение возможностей способа и повышение надежности и точности определения глубины залегания дефекта.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе определения глубины залегания дефекта, заключающемся в сравнении изображений дефекта на двух, отличающихся различной геометрией просвечивания, снимках устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке, дефекту, глубина залегания которого подлежит определению. Затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при различных расстояниях от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений эталонных и реальных дефектов на обоих снимках и по результатам замеров и известной просвечиваемой толщине изделия определяют расчетным или графическим путем глубину залегания реального дефекта.

Сущность изобретения поясняется чертежом.

На чертеже представлена схема определения глубины залегания дефекта заявляемым способом.

Определение глубины залегания дефекта производится по относительному различию (k) размеров проекций дефекта.

Максимальное относительное различие (kmax) размеров проекций дефекта на радиографическую пленку при просвечивании с различных фокусных расстояний будет при расположении дефекта со стороны источника излучения, соответствующего расположению эталонных дефектов, т.е. k=kmax=B2C2/B1C1. При расположении дефекта на стороне изделия, прилегающей к пленке, указанного различия нет, т.е. k=kmin=1. Интерполируя h=d, где d - известная просвечиваемая толщина металла контролируемого изделия, между kmax и kmin, основываясь на замеренном (расчетном) значении k=D2E2/D1E1, можно приближенно определить глубину h залегания реального дефекта. При k=kmax=B2C2/B1C1=D2E2/D1E1 глубина h=d, при k=kmin - глубина h=0.

Более точно определить глубину залегания h реального дефекта можно графическим путем, используя схему чертежа, соответствующую сечению контролируемого изделия в масштабе 1:1. Замерив проекции реального дефекта и отложив соответствующие отрезки D1E1 и D2E2 на схеме чертежа и соединив их края с положениями источника излучения А1 и А2, получим линию DE, соединяющую точки пересечения отрезков D1A1, D2A2 и E1A1, Е2А2. Расстояние h от линии DE до стороны изделия, прилегающей к пленке, является глубиной залегания реального дефекта. При этом построение аналогичной схемы для эталонного дефекта позволяет оценить погрешности решаемой задачи определения глубины залегания выявляемых дефектов контролируемого изделия.

Заявляемым способом проводилась оценка глубины залегания имитированного дефекта типа несплошности - прямоугольной канавки длиной 20 мм и размером в направлении просвечивания 2 мм. Толщина образца 70 мм. Фактическая глубина залегания имитированных дефектов hф=10; 60 мм.

На контролируемый объект со стороны источника излучения устанавливался образец-имитатор с прямоугольными канавками длиной 20 мм (ширина - 10; 5; 2; 1 мм). Просвечивание проводилось рентгеновским аппаратом МГ-420 при Uр.т.=400 кB на пленку типа «Структурикс»-D5. Фокусное расстояние (от источника излучения до изделия) составляло 600 мм и 200 мм.

Соотношение k=kmax для канавки образца-имитатора составило 1,25, для канавки при фактической hф=60 мм-kф=1,23, при hф=10 мм-kф=1,025. Интерполяционное (расчетное) значение hрасч при kф=1,23 составляет 64 мм, при kф=1,025-hрасч=7 мм.

Представленный пример показывает приемлемость заявленного способа для определения направления выборки дефектных мест контролируемого изделия.

Уточнить глубину залегания дефекта можно графическим способом. Точность определения глубины залегания дефекта возрастает с увеличением размера дефекта вследствие уменьшения влияния на точность измерения размеров проекций дефектов на пленке геометрической нерезкости.

Заявленный способ рекомендуется применять в случаях, когда способ двойного просвечивания с угловым смещением источника излучения не применим, например при контроле в стесненных или непригодных для углового смещения источника условиях просвечивания.

Похожие патенты RU2437081C1

название год авторы номер документа
Способ фотометрической оценки размеров дефектов в направлении просвечивания 1988
  • Зуев Вячеслав Михайлович
SU1536215A1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2313080C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2240538C2
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2243541C2
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Антипов Владимир Семенович
RU2392609C1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ПЕРЕМЕННОГО СЕЧЕНИЯ 1988
  • Зуев В.М.
  • Табакман Р.Л.
SU1526381A1
СПОСОБ ДЕФЕКТО-СТРУКТУРО-РЕНТГЕНОГРАФИИ 2004
  • Зуев Вячеслав Михайлович
RU2271533C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Шипилов Александр Валентинович
RU2399908C1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ 2013
  • Добротворский Александр Мстиславович
  • Макаров Алексей Владимирович
  • Соколов Владимир Леонидович
RU2550163C1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2315979C1

Реферат патента 2011 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТА

Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при различных расстояниях от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений эталонных и реальных дефектов на обоих снимках и по результатам замеров и известной просвечиваемой толщине изделия определяют расчетным или графическим путем глубину залегания реального дефекта. Технический результат: повышение надежности и точности определения глубины залегания дефекта. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 437 081 C1

Способ определения глубины залегания дефекта, заключающийся в сравнении изображений дефекта на двух отличающихся различной геометрией просвечивания снимках, отличающийся тем, что устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на снимке дефекту, глубина залегания которого подлежит определению, затем проводят двойное просвечивание без изменения направления излучения при различных расстояниях от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений эталонных и реальных дефектов на обоих снимках и по результатам замеров и известной просвечиваемой толщине изделия определяют расчетным или графическим путем глубину залегания реального дефекта.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2011 года RU2437081C1

СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2243541C2
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2240538C2
Способ фотометрической оценки размеров дефектов в направлении просвечивания 1988
  • Зуев Вячеслав Михайлович
SU1536215A1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ПЕРЕМЕННОГО СЕЧЕНИЯ 1988
  • Зуев В.М.
  • Табакман Р.Л.
SU1526381A1
JP 62282251 A, 08.12.1987
JP 8203691 A, 09.08.1996
JP 61155843 A, 15.07.1986
US 6157699 A, 05.12.2000.

RU 2 437 081 C1

Авторы

Зуев Вячеслав Михайлович

Табакман Рудольф Леонидович

Капустин Виктор Иванович

Шипилов Александр Валентинович

Даты

2011-12-20Публикация

2010-06-02Подача