Устройство для контроля интегральных микросхем с памятью Советский патент 1980 года по МПК G01R31/303 

1

Изобретение касается электроизмерительной техники и может быть использовано для контроля и диагностики неисправностей устройств, содержащих интегральные микросхемы с па- 5 мятью.

Известно устройство, содержащее групповой контактный зонд, эталонную микросхему, компаратор, RS-триггер, кнопку и индикатор 1 j. 0

Недостатком известного устройстба является невозможность контроля интегральной микросхемы с памятью, т.е. его функциональные возможности ограничены.tS

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для контроля интегральных микросхем с памятью, содержащее блок тестового контроля, эталонную ин- 20 тегральную микросхему, компаратор, блоки свертки, групповые элементы контактирования и индикатор 2 .

Недостаток этого устройства также заключается в его ограниченных функ- 25 циональных возможностях, так как это устройство не обеспечивает конт- роля интегральных микросхем с памятью, не имеющих выводов со всех элементов памяти.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей.

Поставленная цель достигается тем, что в известное устройство, содержащее блок тестового .контроля, выходы и входы которого соединены соответственно с входами и выходами проверяемой интегральной микросхемы с памятью, эталонную интегральную микросхему, компаратор, одни из входов которого соединены с выходами проверяемой интегральной микросхемы с памятью через один из групповых элементов контактирования, а другие входы соединены с входами проверяемой интегральной микросхемы с памятью через последовательно соединенные другой групповой элемент контактирования и эталонную интегральную микросхему, и индикатор, введены счетный триггер и ключевой элемент, причем единичный выход счетного триггера соединен с управлягацим входом ключевого элемента, другой вход которого соединен с выходом компаратора, а выход соединен с входом индикатора, счетный и установочный входы и нулевой выход счетного триггера соединены с соответствующими выходами блока тестового контроля.