Способ ультразвукового контроляРАзМЕРОВ дЕфЕКТОВ B издЕлии Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

(54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В ИЗДЕЛИИ Способ осуществляется следующим образом. В контролируемом изделии формирую эталонное препятствие в виде цилиндр ческого сквозного отверстия диаметро Dfl в плоскости, перпендикулярной пло кости контроля,устанавливают излучатель 1 и приемник 2 соосно на одном расстоянии В друг от друга с двух сторон от эталонного препятствия. Пе ремещают излучатель 1 и приемник 2, возбуждая и принимая ультразвуковые импульсы, снимают огибающие последовательности амплитуд импульсов в зонах эталонного препятствия и измеряе мых дефектов (не показаны), размеры которых не известны, сравнивают шири ну огибающих на уровне 0,5 динамичес кого диапазона А о min где Ар- амплитуда опорного сигнала; соответствующая положению искателя вне зон эталонного препятствия и дефектов; А ,- минимальна я амплитуда сигналов от эталонного препятствия ( или дефектов . ) , и выбирают дефект, ширина огибающей которого на этом уровне равна ширине огибающей эталонного препятствия. Величину ослабления Aj, выбранного дефекта принимают за -эталонное значение и сравнивают с ним ослабления от остальных Дефектов и по параметру сравнения определяют размер де фекта. формула изобретения Способ ультразвукового контроля размеров дефектов в изделии, заклюдающийся в том, что перемещают искатель по контролируемому изделию, возбуждают и принимают ультразвуковые импульсы в исследуемом изделии с помощью искателя и по величине ослабления параметров принятых импульсов судят о размере каждого дефекта, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, предварительно в контролируемом изделии создают эталонное препятствие, при приеме удьтразвуковых импульсов снимают огибающие последовательности амплитуд импульсов в зоне измеряемых дефектов и эталонного препятствия, сравнивают ширину огибающих на уровне 0,5 динамического , диапазона, и выбирают дефект, ширина огибающей которого на этом уровне равна ширине огибающей эталонного препятствия, определяют ослабление для всех остальных дефектов и сравнивают его с ослаблением выбранного дефекта и величину сравнения принимают за параметр, по которому судят о размере каждого дефекта. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Гурвич. А.К. Зеркально-теневой метод ультразвуковой дефектоскопии, М., Машиностроение, 1970, с.7. 2.Краткие тезисы докладов научнотехнической конференции Ультразвуковая дефектоскопия сварных конструкций . Л., РТПЦНИИТС, 1973, с. 144,147 (прототип).