Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии Советский патент 1981 года по МПК G01N1/28 G01N21/01 

Описание патента на изобретение SU892266A1

(54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭТАЛОНА ДЕФЕКТА ДЛЯ МЕТОДА КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Похожие патенты SU892266A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОНТРОЛЬНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2010
  • Калиниченко Николай Петрович
  • Калиниченко Алексей Николаевич
  • Конарева Ирина Сергеевна
RU2426110C1
Способ изготовления эталонов для дефектоскопии 1976
  • Санько Борис Семенович
  • Качанов Николай Николаевич
  • Дегтерев Александр Петрович
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Подымаева Галина Борисовна
SU555329A1
ЖИДКИЙ ПРОЯВИТЕЛЬ ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2000
  • Денель А.К.
  • Соколова Л.Н.
  • Бальзамова Т.В.
RU2184366C1
ЖИДКИЙ ПРОЯВИТЕЛЬ ДЛЯ ЦВЕТНОЙ КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2007
  • Глазков Юрий Алексеевич
  • Пономарева Ольга Вадимовна
  • Хролова Ольга Рафаиловна
RU2331060C1
Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопии 1983
  • Калинин Николай Павлович
  • Остапенко Владимир Дмитриевич
SU1087874A1
Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопии 1983
  • Калинин Николай Павлович
  • Катаев Александр Николаевич
  • Денель Александр Кириллович
SU1142784A1
ПЕНЕТРАНТ ДЛЯ ЦВЕТНОЙ КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2007
  • Глазков Юрий Алексеевич
  • Пономарева Ольга Вадимовна
  • Хролова Ольга Рафаиловна
RU2331061C1
Способ изготовления контрольных образцов для настройки дефектоскопов 1984
  • Сахно Сергей Александрович
  • Танцеров Александр Иванович
  • Гольдин Моисей Львович
  • Гарькавый Василий Васильевич
  • Левченко Николай Филиппович
SU1267250A1
ПЕНЕТРАНТ ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОЙ ЛЮМИНЕСЦЕНТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2006
  • Хролова Ольга Рафаиловна
  • Пономарева Ольга Вадимовна
  • Тавризова Мария Атанесовна
  • Соколова Лариса Николаевна
RU2296982C1
ПЕНЕТРАНТ НА ВОДНОЙ ОСНОВЕ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ И СКВОЗНЫХ ДЕФЕКТОВ 1995
  • Семенов Г.П.
  • Антипов В.С.
  • Ковжина Л.П.
  • Соколова Н.Б.
  • Дмитриева Н.М.
  • Солодова К.В.
  • Винокуров Ю.В.
RU2109271C1

Реферат патента 1981 года Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии

Формула изобретения SU 892 266 A1

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества поверхности изделий методами капиллярной дефектоскопии и может быть использовано для контроля чувствительности методов, качества приготовленных индикаторной жидкости и проявляющего состава. Известен способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, согласно которому эталон получают нанесением (например, напылением в вакууме) на обработанные стороны двух металлических пластин слоя металла, в котором оставляют непокрытые площадки, образующие при их совмещении и соединении диффузионной сваркойпаз заданных размеров, имитирующий дефекты-трещины, возникающие на поверхности контролируемых изделий 1. Однако технология получения паза заданных размеров этим способом вызывает необходимость .применения сложного оборудования и аппаратуры, отличается повыщенной трудоемкостью и не обеспечивает гарантированную стабильность размеров при диффузионной сварке пластин вследствие деформации площадок, сжимаемых для соединения диффузионной сваркой. Известен также способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающий нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин глубиной, равной толщине хрупкого слоя, и деформацию образца 2. Однако отсутствие ограничения развитию трещин в деформируемом слое не позволяет получать эталон дефекта заданной длины, что снижает объективность, усложняет или делает невозможным проведение контроля изделий методами капиллярной дефектоскопии с применением описанного эталона дефекта. Трещины, полученные этим способом, имеют, как правило, разветвленный характер и переменные (изменяющиеся по длине и щирине) размеры, что затрудняет проведение и снижает надежность контроля. Без принятия специальных мер защиты поверхность пластины с нанесенными трещинами подвержена при эксплуатации повреждениям и засорам, снижающим срок службы эталона. Целью изобретения является упрощение технологии изготовления и повыщение качества образца.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающему нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин с глубиной, равной толщине хрупкого слоя, и деформацию образца, перед нанесением слоя хрупкого металла в образце выполняют паз, при этом ширина паза равна длине трещины, а деформацию образца производят при изготовлении эталона.

Преимуществами способа являются образование трещин заданного раскрытия в металле, заполняющем паз, направленных поперек паза, длиной и глубиной соответственно равных ширине и глубине паза и предельно допустимым (заданным) длине и глубине эталона дефекта, а также использование паза для защиты эталона дефекта от повреждений его поверхности и сохранения заданных размеров.

Пример. Эталон дефекта, соответствую11ЦИЙ требованиям ГОСТ 18442-73, предъявляемым ко второму условному уровню чувствитёльности методов капиллярной дефектоскопии, изготавливают, длиной до 1,0 мм, глубиной..до 0,1 мм и с шириной раскрытия до 0,01 мм.

В пластине из никеля Н-1 проточена канавка шириной и глубиной 1,0 мм. После обезжиривания пластина на 15-20 с погружена в тигель с расплавленным металлом, склонным к трещинообразованию, состава, вес.%: Си 10; Sn 10; Si 3; S 1,05; Ni - остальное, после охлаждения на воздухе зачищена со стороны канавки и деформирована до образования трещин, ориентированных поперек канавки, изгибающим усилием, направленным вдоль ее осевой линии. Металлографическим контролем определен характер и аттестованы раскрытие и длина трещин, шлифовкой и полированием поверхности (ДО чистоты поверхности контролируемых деталей), глубина канавки (и толщина

заполняющего ее металла) доведена до 0,95-0,098 мм (по результатам измерений у торцов).

Металлографическим исследованием (после разрушения пластины вдоль канавки) установлен характер распространения трещин по глубине канавки.

После металлографического контроля партия изготовленных образцов проверена методами капиллярной дефектоскопии и аттестована как эталоны дефектов, соответствующие второму условному уровню чувствительности ГОСТ 18442-73.

Применение предлагаемого способа, по сравнению с известными, значительно упрощает технологию и снижает трудоемкость получения, увеличивает срок службы эталона дефекта, способствует повыщению достоверности, надежности и производительности контроля качества продукции.

Ожидаемый экономический эффект от внедрения изобретения для одного предприятия составит 10 000 руб. в год.

Формула изобретения

Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающий нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин с глубиной, равной толщине хрупкого слоя, и деформацию образца, отличающийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления и повыщения качества образца, перед нанесением слоя хрупкого металла в образце выполняют,паз, при этом ширина паза равна длине, а деформаЦию образца производят при изготовлении эталона.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР - 290207, кл. G 01 N 21/01, 1969.

2. Авторское свидетельство СССР № 389447, кл. G 01 N 21/01, 1971.

SU 892 266 A1

Авторы

Безпяткин Петр Вуколович

Глаговская Лидия Сергеевна

Козин Юрий Николаевич

Ларионов Роберт Александрович

Шептухин Анатолий Васильевич

Даты

1981-12-23Публикация

1978-07-12Подача