Способ определения толщины оксидных пленок Советский патент 1954 года по МПК G01B11/06 G01J3/36 

Предметом нзобретеиия является способ определения толщины оксидного покрытия на металлических сплавах, отличающийся от известных способов тем, что толщина оксидной пленки определяется сравнением интенсивности спектральных линий химического элемента, введенного в эту пленку, с интенсивностью спектральных оснознсго элемента оксидироваппого металлического сплава.

Предлагаемый способ состоит в том, что в поры оксидной плепки вводят, например, .путем окунания, наполнитель, представляющи собой соль какого-либо химического элемента, не содержащегося в оксидированном сплаве и имеющего удобные спектральные линии в используемой области спектра (например, соли бария, стронщш и

др.).

Затем измеряют относительную интенсивность пары спектральных линий, из которых одна является линией элемента, входящего в состав наполнителя, а другая - основного элемента сплава, на который нанесена оксидная пленка.

После этого по градуировочному графику, построенному по 3-4 эталонам, охватывающим интервал встречаюпмхся толщин оксидно; пленки, определяют толщину это пленки.

Для возбуждения спектра оксидного покрытия могут быть применены искровой н дуговся разряды небольню мощности ОТ стандартнЬХ генераторов.

Пред м с т и 3 о б р е т е н и я

1.Снособ определения толщины оксидных пленок на металлических

сплавах, о т л и ч а ю HI и и с я тем, что пленку насыи1ают со.. элемента, не содержап1е1-ося в оксидированном сплаве, и определяют то;;щину пленки по интенсивности спектральных линий этого введенного в нлепку э: емента.

2.Прием выполнения способа по п. 1, отличающийся тем, что интенсивиость спектральных линий введенного в пленку элемента определяют сравнением с интенсивностью спектральных линий основ.ного элемента сплава, па который нанесена пленка.