Выходной узел тестера для контроля логических схем Советский патент 1983 года по МПК G01R31/319 G01R31/3177 

О) liC Изобретение относится к контроль- но- змерительной технике и может быт использовано в аппаратуре контроля логических схем. Известно устройство для контроля логических схем, содержащее входной вентиль, вентиль запрета, буферный каскад, ключ уровня логической едини цы, ключ уровня логического нуля ГО Недостатком данного устройства является отсутствие защиты ключей от перегрузки, а также отсутствие защиты выходов проверяемой схемы от перегрузки. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому изобретению является выходной узел тестера для контроля логических схем, содержащий первый и второй ключи, первый и второй вентили, триггер и элемент сравнения 12 . Недостатком известного устройства является отсутствие защиты выходов проверяемой схемы и выходного узла от токов, превышающих допустимые зна чения, что может привести к выходу из строя выходного узла или к снижению его надежности. Протекание недопустимых токов через выходы выходноН го узла в процессе контроля может произойти в тех случаях, если к тестеру ошибочно подключена не та логическая схема, на контроль которой настроен тестер, если в проверяемой схеме 8 процессе ее изготовления ошибочно выходы микросхем подсоединены к входным контактам узла, если в случае негфавильной работы тестера, 0 результате чего тестер задает входные сигналы на выходы проверлемо логической схемы. Во всех этих случаях выходы формирователей тестера и выходы микросхем проверяемого узла оказываются соединенными между собою что приводит при разных логических состояниях на них к протеканиюнедопустимо больших токов. Цель изобретения - повышение надежности. Поставленная цель достигается тем, что в выходной узел тестера дд контроля логических схем, содержащий первый и второй ключи, первый и второй вентили и Б-триггер, С-вход которого соединен с первым входом выходного узла, соединенного вторым входом с первыми входами первого и второго вентилей, третьим входом с вторыми входами первого и второго вентилей и S-входом триггера, соединенного выходом с третьими входами первого и второго вентилей, соединенных выходами соответственно с первыми входами первого и второго ключей, выходы которых соединены с выходом выходного узла, введены первый и второй резисторы, первый и второй компараторы, первый и второй источники опорного напряжения и элемент ИЛИ, соединенный выходом с 1 -входом триггера, первым и вторым входами соответственно с выходами первого и второго компараторов, соединенных первыми входами соответственно с выходами первого и второго источников опорного напряжения, вторцми входами через первый и второй резисторы соответственно с четвертым и пятым входами выходного узла, а непосредственно с вторыми входами первого и второго ключей. На чертеже представлена функциональная схема выходного узла тестера. Выходной узел содержит контакт 1 проверяемой схемы, проверяемую логическую схему 2, второй вход 3, первый вентиль Ч.который выполнен, например, на логическом элементе И-НЕ, второй вентиль 5, выполненн-Ш, например, на логическом элементе запрета, первый ключ 6, второй ключ 7, первый вход 8, третий вход 9, четвертый вход 10, первый резистор 11, выход 12, первый компаратор 13 с входами И и 15, первый источник 16 опорного напряжения, элемент ИЛИ 17,15-триггер 18, пятый вход 19, второй резистор 20, второй компаратор 21, второй источник 22 опорного напряжения. Выходной узел тестера работает следующим образом, В том случае, если контакт 1 проверяемой схемы i является ее выходом, на вход 3 подается уровень логичесгкого нуля и на выходах вентилей k и 5 устанавливаются нулевые логические уровни, которые обеспечивают непроводящее состояние ключей 6 и 7. В этом состоянии устройство имеет высокое выходное сопротивление. Если контакт 1 является входом проверяемой схемы 2, на вход 3 подается уровень логической единицы, а на вход 8 - синхроимпульс. При подаче на вход 9 уровня логической.единицы на выходе вентиля 4 устанавливается уровень логической единицы, a на выходе вентиля 5 уро вень логического нуля, ключ 7 устана ливается в непроводящее состояние, а ключ б - в проводящее, и напряжение уровня логической единицы с вход 10 через резистор 11 поступает на выход 12 и на вход 1 проверяемой схемы 2. Если при этом схема 2 неисправна или по какой-либо другой причине ток через клоч б превышает допустимое значение, то появляющееся при этом напряжение на резисторе 11 вызывает срабатывание компаратора 13 Это.напряжение подается на вход 14компаратора 13, на другой вход 15которого подается напряжение с регулируемого источника 16 опорного напряжения. Изменяя напряжение источ ника 16 опорного напряжения, можно устанавливать срабатывание компарато ра при заданном токе через ключ б. Учитывая высокую чувствительность современных компараторов (например, микросхем 521СА1), составляющих единицы милливольт, величина сопротив лениярезистора. II составляет единицы Ом и- практически не влияет на велими ну напряжения логической единицы, формируемой выходным узлом тестера. При превышении напряжения на входе Il напряжения не входе 15 компаратора 13 он cpaбaтывaef и уровень логического нуля, появляющийся на его выходе, через элемент 17 ИЛИ попадает на вход 13 триггера 18. Через время задержки, определяемое периодом следования синхроимпульсов, уровень логического нуля появляется на выходе триггера 18, что приводит к переходу ключа б в непроводящее состояние. Аналогично при подаче на вход 9 уровня логического нуля уровень логической единицы появляется на выходе вентиля 5. Ключ 7 переходит в проводящее состояние, и напряжение логического нуля с входа 19 через резистор 20 попадает на выход 12 и далее на вход 1 схемы 2. Если в этом случае ток через клю 7 превышает допустимое значение, то напряжение на резисторе 20 вызывает срабатывание компаратора 21, на другой вход которого подается напряжение от источника 22 опорного напряжения. Появляющийся при этом на выходе компаратора 21 уровеньлогического нуля попадает через элемент ИЛИ 17 на вход D триггера 18. Появляющийся при зтом уровень логического нуля на выходе триггера 18 вызывает з пирание клюма 7 Из-за высокой чувствительности компаратора 21 величина сопротивления резистора 20 составляет единицы Ом и практически не влияет на зе/ 1чину напряжения логического нуля, формируемого выходным узлом. Предлагаемое устройство за счет введения элементов 11,13, 1 б, 17, 21 и 22 обеспечивает надежную защиту от недопустимых токов не только выходнбго уела тестера, но и выходов микросхем проверяемого jx гичecкoro узла. Это позволяет уменьшить расходы на ремонт выходного узла повысить его надежность и срок службы.

п

L.I