ьр
оэ
1
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля элементарных форм изгиба или отклонения от плоскостности полупроводниковых пластин
Известно фотоэлектрическое бескотАктное устройство для контроля отклонения от плоскостнос-:-и полупроводниковых пластин, содержащее последовательно расположенные осветитель, модулятор, оптическую систему для- передачи светового потока, диафрагму, лекальную линейнку и фотоприемник С1
Недостатками указанного измерителя являются высокая сложность устройства и низкая производительность контроля.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для контроля изгиба полупроводниковых пластин, содержащее предметный стол с базовыми опорами, измерительную головку с электронным преобразователем и сигнализатор разбраковки L2.
Недостатком этого устройства является низкая производительность контроля(необходимость снятия двух показаний),
Цель изобретения - повьшшние производительности контроля изгиба полупроводниковых пластин контактны способом.
Поставленная цель достигается тем, что устройство для контроля изгиба полупроводниковых пластин, содержащее предметный стол с базовыми опорами, измерительную головку с электронным преобразователем и сигнализатор разбраковки, снабжено узлом коммутации, анализатором базирования, ячейкой памяти и формирователем, измерительная головка выполнена в виде тарированного гравитационного толкателя и датчика перемещений, сферические наконечники которых установлены оппозитно и соосно, базовые опоры выполнены в виде датчиков касания и подключен к анализатору базирования, выход которого соединен с первым входом узла коммутации, второй вход последнего через электронный преобразователь соединен с выходом датчика перемещений, выход узла коммутации через ячейку памяти и формирователь соединен с сигнализатором разбраковки-.
232
На фИ1. дана схема устройства для контроля.изгиба полупроводниковых пластин; на фиг. 2 и 3 - фронтальная и горизонтальная проекции манипулятора соответственно.
Устройство состоит из манипулятора I, соединенного с электронным блоком 2. Манипулятор 1 содержит корпус 3, на котором укреплен предметный стол 4, индуктивный датчик 5 перемещений, помещенный в корпус 3, и балансир 6, закрепленный на корпусе 3.
Предметный стол 4 имеет базовые опоры 7, выполненные в виде датчиков касания, а балансир 6 снабжен рычагом 8 и тарированным по массе гравитационным толкателем 9, укрепленнь м на рычаге 8. Наконечники датчика 5, гравитационного толкателя 9 и базовых опор 7 выполнены со сферическими измерительными поверхностями.
Тарированный гравитационный толкатель 9 в сочетании с подпружиненным измерительным стержнем 10 датчика 5 составляет микросиловой компаратор, фиксирующий результирующее усилие базирования полупроводниковой пластины 11, помещенной на предметном столе 4 с упором в ограничители 2, расположенные на столе 4.
Электронный блок 2 содержит электронный преобразователь 13, узел 14 коммутации выхода электронного преобразователя 13 и анализатора- 15 базирования, ячейку 16 памяти, вход которой соединен с узлом 14 коммутации, а выход - с измерительным прибором 17 и через формирователь 18 команды - с сигнализатором 19 разбраковки.
Устройство работает следующим образом.
Поворотом балансира 6 за рычаг 8 гравитационный толкатель 9 приподнимают и на предметный стол 4 укладывают полупроводниковую пластину I1 до упора в ограничители 12. Пластина 11 при этом ложится на две базовые опоры 7 и несколько выступающий Наконечник датчика 5.
Поворотом балансира 6 в исходное положение гравитационный толкатель 9 вводят в контакт с полупроводниковой пластиной 1I , включая в работу микросиловой компаратор. Результирующее усилие микросилового компаратора обеспечивает опускание пластины на третью замыкающую базовую опору
31
7. Масса гравитационного толкателя 9 подобрана таким образом, что превьшает измерительное усилие датчика 5 на величину, достаточную для гарантированной установки полупроводниковой пластины 11 на базовые опоры 7 при минимальной динамике результирующего перемещения.
Линейное перемещение измерительного стержня 10 датчика 5 относительно положения, соответствующего нулевому значению изгиба, преобразуется в аналоговьй электрический сигнал, поступающий с выхода электронного преобразователя 13 через узел 14 коммутации на вход ячейки 16 памяти.
В момент касания полупроводниковой пластины 11 любой третьей замыкающей базовой опоры 7 с анализатора 15 базирования на вход узла 14 коммутации поступает сигнал управления.
Узел 14 коммутации отключает выхо электронного преобразователя 13, предотвращая поступление в ячейку
34
16 памяти приращения аналогового сигнала в результате дополнительного хода измерительного стержня 10 при деформации пластины 11.
С выхода ячейки I6 памяти аналоговый сигнал поступает на вход форми-. рователя 18 команды разбраковки. С выхода формирователя I8 команда разбраковки поступает на вход сигнализатора 19, включающего соответствующие приборы индикации.
Для выборочного измерения величи.ны изгиба пластин, юстировки и поверки устройства используют измерительный прибор 17(например, цифровой вольтметр)
Использование предложенного устройства для контроля изгиба(Ьтклонения формы полупроводниковы х пластин позволяет снизить процент брака на процессах фотолитографии, эпитаксиального нара1цивания и окисления .
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин | 1982 |
|
SU1048305A1 |
Устройство для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин | 1982 |
|
SU1106983A1 |
Устройство для измерения геометрических параметров полупроводниковых пластин | 1989 |
|
SU1763873A1 |
Устройство для контроля полупроводниковых пластин | 1981 |
|
SU1013744A1 |
Устройство контроля внешнего вида деталей типа "втулка | 1987 |
|
SU1578470A1 |
Устройство для обнаружения поврежденного участка телеграфного тракта | 1981 |
|
SU1042194A2 |
Электроконтактный датчик | 1988 |
|
SU1633259A2 |
Способ контроля отклонения формы полупроводниковых пластин | 1986 |
|
SU1394029A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВИБРАЦИЙ | 1989 |
|
RU2008698C1 |
Электромагнитный дефектоскоп | 1983 |
|
SU1147966A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ИЗГИБА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее предметный стол с базовыми опорами, измерительную головку с электронным преобразователем и сигнализатор разбраковку, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности контроля, оно снабжено узлом коммутации, анализатором базирования, ячейкой памяти и формирователем, измерительная головка вьтолиена в виде тарированного гравитационного толкателя и датчика перемещений, сферические наконечники которых установлены оппозитно и соосно, базовые опоры выполнены в виде датчиков касания и подключены к анализатору базирования, выход которого соединен с первым входом узла коммутации, второй вход последнего через электронный преобразователь соединен с выходом датчика перемещений выход узла коммутации через ячейку памяти и формирователь соединен с сигнализатором разбраковки.
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Фотоэлектрический измеритель прогибов полупроводниковых пластин | 1976 |
|
SU603842A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов | 1917 |
|
SU2A1 |
Вочкин И.О | |||
и др | |||
Механическая обработка полупроводниковых материалов | |||
М., Машиностроение, 1973, с | |||
Крутильная машина для веревок и проч. | 1922 |
|
SU143A1 |
Авторы
Даты
1984-08-30—Публикация
1981-04-10—Подача