Способ измерения геометрических параметров крупногабаритного объекта Советский патент 1991 года по МПК G01B5/00 

Изобретение относится к машиностроению, к области измерения с помощью координатных измерительных машин (КИМ) геометрических параметров крупногабаритных объектов, например объектов, размеры которых превосходят измерительные ходы КИМ, или обьектов, требующих изменения положения в процессе измерения с целью доступа к измеряемым поверхностям

Цель изобретения - повышение точности измерения и упрощение доступа к измеряемым поверхностям.

На чертеже изображена схема измерения.

На схеме показаны измеряемый объект 1, базовая поверхность 2 КИМ, точки 3-5 контролируемого объекта, равноудаленные от базовой поверхности 2,0- начало координат дополнительной измерительной ортогональной системы координат OXYZ

Способ осуществляется следующим образом.

Измеряемый объект 1 размещают на базовой поверхности 2 с возможностью перемещения, выбирают на объекте 1 не менее трех точек 3 5, равноудаленных от поверхности 2. измеряют расстояния между ними и образуют дополнительную измерительную ортогональную систему координат с центром в одной из выбранных точек, например, в точке 3 (0), при этом первая из осей OY системы координат OXYZ проходит через точки 3(0) и 4, вторая ось OZ - параллельно плоскости 2 и перпендикулярно оси OY, а третья ОХ в силу ортогональности системы координат через точки 3(0) перпендикулярно плоскости 2. Производят измерения объекта 1 по заданной программе и отсчитывают показания по координатам КИМ и дополнительной системе координат OXYZ Результаты измерений алгебраически складывают и по полученным результатам судят о размерах объекта.

Формула изобретения Способ измерения геометрических параметров крупногабаритного объекта с помощью координатной измерительной машины (КИМ), по которому измеряемый

со

С

о

(л CJ ГО О

о

объект размещают на базовой поверхности КИМ с возможностью перемещения, выбирают на нем не менее трех опорных точек равноудаленных от базовой поверхности. измеряют расстояния между ними и образуют дополнительную измерительную ортогональную систему координат с центром в одной из выбранных точек, производят измерение объекта с отсчетом показаний по координатам КИМ и дополнительной систе0

мы и по разности показаний судят о размерах объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения и упрощения доступа к измеряемым поверхностям, первую из осей дополнительной системы координат совмещают с линией, проходящей через ее центр и одну из двух выбранных точек, а за вторую ось выбирают линию, параллельную базовой поверхности КИМ и перпендикулярную первой оси.

Изобретение относится к машиностроению, а именно к измерению с помощью координатных измерительных машин (КИМ) параметров крупногабаритных объектов. Цель изобретения - повышение точности измерения и упрощение доступа к измеряемым поверхностям. Цель достигается тем, что с помощью трех определенных точек на поверхности измеряемого объекта образуют дополнительную измерительную ортогональную систему координат, производят измерение с отсчетом показаний по координатам КИМ и дополнительной системы и по разности их показаний судят о размерах объекта 1 ил