Способ измерения формы поверхности детали Советский патент 1992 года по МПК G01B5/20 

Описание патента на изобретение SU1753237A1

С

Похожие патенты SU1753237A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ НАСТРОЙКИ СТАНКА С ЧПУ ДЛЯ ОБРАБОТКИ СЛОЖНЫХ КОНТУРОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2018
  • Тукачев Дмитрий Валерьевич
  • Черепанов Сергей Евгеньевич
RU2705051C1
КООРДИНАТНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ МАШИНА (КИМ) 2005
  • Турухано Борис Ганьевич
  • Турухано Никулина
  • Добырн Владислав Вениаминович
  • Кормин Владимир Евгеньевич
RU2307321C2
ШЕСТИОСЕВАЯ КООРДИНАТНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ МАШИНА И СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО НАКОНЕЧНИКА ДЛЯ НЕЕ 2007
  • Лаптев Александр Григорьевич
  • Маслов Павел Викторович
  • Шишкин Александр Владиславович
RU2345884C1
Способ определения параметров трубопроводов пространственной конфигурации 1985
  • Тимохин Виктор Матвеевич
SU1271612A1
СПОСОБ АДАПТИВНОЙ ОБРАБОТКИ ИЗДЕЛИЙ НА СТАНКАХ С ЧПУ 2012
  • Хрустицкий Кирилл Владимирович
RU2528923C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТИ 2006
  • Маннапов Альберт Раисович
  • Салахутдинов Ринат Мияссарович
RU2307319C1
Способ измерения параметров паза на наружной сферической поверхности детали 2022
  • Архаров Анатолий Павлович
RU2785969C1
Способ контроля контура 1984
  • Гейшерик Валерий Семенович
  • Евстигнеев Владимир Николаевич
SU1254279A1
Устройство для считывания координат точек объемных объектов 1982
  • Балыклов Валерий Сергеевич
  • Жевелев Борис Яковлевич
  • Шкатуло Геннадий Григорьевич
SU1088026A1
Способ измерения профиля деталей 1981
  • Гейшерик Валерий Семенович
  • Евстигнеев Владимир Николаевич
  • Колискор Александр Шулимович
  • Тарасова Тамара Ивановна
SU1379591A1

Реферат патента 1992 года Способ измерения формы поверхности детали

Изобретение относится к технике координатных измерений и может быть использовано для контроля машиностроительных деталей с помощью координатно-измери- тельных машин (КИМ). Цель изобретения - повышение производительности измерений. Поставленная цель достигается за счет того, что выбирают дополнительную систему 9 координат измерительной головки КИМ, оси которой параллельны соответствующим осям координат 10 КИМ или совмещены с ними, определяют положение точек поверхности в дополнительной системе координат 9, а при определении формы поверхности учитывают алгебраическую сумму одноименных координат точек в обеих системах координат. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 753 237 A1

ч ел со го со м

Изобретение относится к технике координатных измерений и может быть использовано для контроля машиностроительных деталей с помощью координатно-измери- тельных машин (КИМ).

Известен способ измерения сложных поверхностей деталей с использованием КИМ, заключающийся в том, что щуп измерительной головки КИМ приводят во взаимодействие с контролируемой поверхностью, корпус измерительной головки перемещают относительно измеряемого объекта в соответствии с программой, и е моменты, соответствующие нулевым показаниям головки, определяют значение координат головки, при этом задается программа ее перемещения (1).

Недостатком этого способа является необходимость выполнения ряда последовательных операций: подвод измерительной головки к измеряемой детали, торможение, медленный подвод головки к детали до контакта с ней измерительного щупз. При измерении координат точки касания и при переходе к измерению новой точки необходим отвод от детали измерительной головки и повторение всех операций подвода, что в значительной степени снижает производительность измерений.

Наиболее близким по технической сути к заявляемому способу является способ .контроля контура машиностроительных деталей с помощью КИМ, заключающийся в том, что головку касания щупа последовательно в ряде точек приводят во взаимодействие с контуром и определяют координаты этих точек, при этом переход от предыдущей точки к последующей выполняют по однотипным предварительно запрограммированным траекториям, которые принимают состоящими из нескольких последовательно занумерованных прямолинейных участков (2).

Недостатком этого способа является необходимость выполнения ряда последовательных операций: ускоренный подвод измерительной головки к детали, торможение и медленный подвод головки к детали до контакта с нею щупа, затем отвод головки и выход на новую точку с повторением всего ряда выше описанных ог.граций, что снижает производительность измерений.

Цель изобретения - повышение производительности измерений.

Указанная цель достигается за счет того, что выбираюГдополнитечьную систему координат измерительной головки КИМ, оси которой параллельны соответствующим осям координат КИМ или совмещены с ними, определяют положение точек поверхности в дополнительной системе координат, а при определении формы поверхности учитывают алгебраическую сумму одноименных координат точек в обеих системах координат.

В предложенном способе щуп измерительной головки перемещают в сторону детали, при его соприкосновении с ней

0 соответствующий координатный блок измерительной головки начинает относительное противоположное движение движению КИМ, в измеряемом диапазоне.

На чертеже представлено устройство,

5 реализующее предлагаемый способ.

Устройство содержит стол 1, предназначенный для установки измеряемой детали 2, измерительный щуп 3. предназначенный для контактирования с деталью 2, измери0 тельную головку 4, состоящую из блоков 5, б и 7, каждый из которых имеет датчик 8 положения в системе координат 9, ортогональные оси которой Xr, Yr и Zr параллельны соответствующим осям Хм, YM и ZM системы

5 координат 10 машины, или совмещены с ними, каретку 11, предназначенную для размещения на ней головки 4, блоков 5, 6 и 7 и датчиков 8.

Способ измерения реализуют следую0 щим образом,

По программе каретку 11 перемещают в направлении детали 2 с заданной скоростью. При упоре щупа 3 в деталь 2 каретка 11 будет перемещаться е том же напраеле5 нии,аблок5(соответственно6и7)изменяет направление перемещения на противоположное относительно каретки 11. За время прохождения диапазона измерения проводят многократный опрос датчиков 8 положе0 ния головки 4 на координатных осях системы координат 9 и датчиков положения каретки 11 на координатных осях системы координат 10 (датчики положения каретки 11 условно не показаны).

5 При определении координат точек детали 2 алгебраически складывают координаты, полученные в системах координат 9 и 10 для каждой контролируемой точки детали 2. Формула изобретения

0 Способ измерения формы поверхности детали с использованием координатной измерительной машины (КИМ), по которому измерительный наконечник КИМ последовательно вводят в контакт с точками изме5 ряемой поверхности, определяют их положение в системе координат КИМ и по полученным данным судят о форме поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности, выбирают дополнительную систему координат изме

рительной головки КИМ, оси которой парал-системе координат, а при определении форлельны соответствующим осям координатмы поверхности учитывают алгебраическую

КИМ или совмещены с ними, определяют поло-сумму одноименных координат точек в обежение точек поверхности в дополнительнойих системах координат.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1992 года SU1753237A1

Способ контроля контура 1984
  • Гейшерик Валерий Семенович
  • Евстигнеев Владимир Николаевич
SU1254279A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 753 237 A1

Авторы

Баранов Геннадий Алексеевич

Абубекеров Равиль Абдурахимович

Баранов Алексей Геннадьевич

Даты

1992-08-07Публикация

1990-01-18Подача