УСТРОЙСТВО для ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ДЕТАЛЕЙ ПРИ ИХ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ОРИЕНТАЦИИ Советский патент 1968 года по МПК B23Q7/00 

Известны фотоэлектрические устройства для проверки и сортировки изделий с помощью расположенных на плоскости по продольной и поперечной осям фотоэлементов.

Предложенное устройство для определения положения деталей при их автоматической ориентации, состоящее из матрицы с двумя системами фотодвухполюсников и проектора для проектирования на матрицу изображения детали, отличается от известных тем, что фотодвухполюсники каждой системы соединены последовательно в ряду, а ряды между собой - параллельно, и в каждом ряду обеих систем фотодвухполюсники зашунтированы различными по величине активными сопротивлениями.

Такая конструкция устройства позволяет расширить диапазон ориентируемых деталей.

На фиг. 1 показано устройство для определения положения деталей при их автоматической ориентации; на фиг. 2 - схема матрицы фотодвухполюсников.

Устройство состоит из проектора 1, светонепроницаемого корпуса 2 И матрицы 3 фотодвухполюсникОВ 4. Матрица включает в себя две системы 5 и 5 фотодвухполюсников и имеет соответственно два выхода. Фотодвухполюсники каждой системы соединены последовательно в ряду, а ряды между собой-

параллельно. В каждом ряду обеих систем фотодвухполюсники защунтированы различными по величине активными сопротивлениями 7 и 5.

Изображение детали 9, находящейся в одном из устойчивых положений и зафиксированной относительно базовых поверхностей, проектируется на матрицу фотодвухполюсников, а его размер на матрице устанавливается возможно большим с помощью проектора 1. В зависимости от конкретных условий изображение детали может быть светлым на темном фоне или, наоборот, темным на светлом фоне. Шунтирующие сопротивления выбираются по величине значительно меньшими темного сопротивления фотосопротивлений :и большими светлого. Величина шунтирующих сопротивлений .каждого ряда различна, т. е. зависимости от полол ения изображения детали на матрице и, следовательно, положения ориентируемых элементов детали пазов, выступов, скосов и т. д. сопротивление каждой системы фотодвухполюсников будет мепяться, так как будет меняться ком|бинация засвеченных и затененных фотосопротивлений. Каждому различному положению рассматриваемой детали будет соответствовать своя комбинация величин RX Ry Двух СИстем фотодвухполюсников.

Предмет и.з обретения

Устройство для определения положения деталей при их автоматической ориентации, состоящее из матрицы с двумя системами фотодвухполюсников и проектора для проектирования на матрицу изобрал бния детали, отличающееся тем, что, с целью расширения

диапазона ориентируемых деталей, фотодвухполюсники каждой системы соединены последовательно в ряду, а ряды между собой- параллельно, и в каждом ряду обеих систем фотодвухполюсники зашунтированы различными по величине активными сопротивлениями.

f.a