СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ПОДНАЛАДКИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА Советский патент 1971 года по МПК G01B5/08 

Изобретение относится к области управления технологическими процессами, например к размерной настройке металлорежуп1,его станка. Изобретение может быть распрос-ранено на управление теми видами технологических процессов, у которых измерепие контролируемого цараметра Хп во времени представляет сумму функционально-случайной ц и собственно случайной п составляющих:

71

Известны способы автоматической подналадки технологического процесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающиеся в том, что периодически измеряют коптролируемый параметр Лп, формируют подналадочный импульс Un, величину и знак которого о-пределяют на основании сравнения результата измерения с некоторым заданным уровнем, и оказывают на процесс регулируюп;ее воздействие, эквивалентное подпаладочному импульсу, например перемещают пополнительный орган металлорежущего станка.

Подналадочный импульс принимают равным

г1+1 зад-иХп

Весовой коэффициент а выбирают, исходя из статистических характеристик процесса, стремясь обеспечить минимальное рассеивание контролируемого параметра.

Благодаря применению автоматической подна.тадки возможно уменьшить рассеивание контролируемого параметра.

Однако известные способы автоматической подпаладки имеют пониженную точность вследствие недостаточно полного учета предшествующей информации, так как при формпровании подналадочного импульса Un+i учитывают только информацию, полученную нри п-ном измерении, а всю предысторию процесса отбрасывают.

Способы запоминания предшествующей информации па индивидуальных ячейках памяти не получили распространения вследствие громоздкости реализующих их устройств.

Целью предлагаемого изобретения является минимизация рассеивания контролируемого параметра.

Это достигается тем, что подналадочпый импульс формируют равным сумме отклонения результата измерения контролируемого параметра от заданного уровня и нредыдущего подналадочного импульса, взятых с соответствующими весовыми коэффициентами

25

L,,+1 а Un-bXn

(1)

Весовые коэффициенты а и b могут быть определены па основании статистических характеристик процесса. ВЕяраженное двухзвенной формулой (1) рекурентиое соотношение позволяет учесть вею нредыдущую информацию, -поскольку оно эквивалентно равенству и.п 1 Ь{Х„ + + сгХп-2+ ... + ,) (2) Описываемый снособ автоматической подналадки технологического процесса заключается в том, что нериодически измеряют контролируемый параметр технологического нроцесса, например размер детали, обработанной на металлорежущем станке, сравнивают результат измерения с некоторым заданным уровнем, формируют подналадочный ьмпульс в соответствии с соотношением (1), оказывает на процесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подпаладочного импульса, например перемеш ают исполнительный орган металлорежущего сталка. Величины а и b в соотношеннн (1) определяют предварительно на основании имеющихся да}1ных о статистических характеристиках регулируемого технологического тфоцесса. Например, для технологических процессов, у которых функционально-случайная |.1„ и собственно случайная t,n составляющие распределены нормально с нулевыми средними знасоответственно о,, чениями и дисперсиями .„.-,- „ а и с корреляционной функцией для .in вида а - цостоянный коэффициент; а, п - число изделий. Весовые коэффициенты а к b могут быть найдены как а еЧ 1 - - (1 - е b 2e о2 ,.+i/Jiz«:z M У1-еПредмет изобретения Снособ автоматической подналадки технологического нроцесса, например размерной настройки металлорежущего станка, заключающийся в том, что периодически измеряют контролируемый параметр процесса, результат измерения сравнивают с заданным уровнем, формируют подналадочный импульс неременной велнчипы и знака в зависимости от результатов измерения и статистических характеристик регулируемого процесса и оказывают на нроцесс регулирующее воздействие, эквивалентное величине подналадочного имнульса, отличающийся тем, что, с целью минимизации рассеивания контролируемого параметра, величину нодналадочного импульса определяют как сумму предыдущего подналадочного импульса и отклонения предыдущего результата измерения от заданного уровня, взятых с ностоянными весовыми коэффициентами.