Способ многоэлементного рентгенорадиометрического анализа Советский патент 1976 года по МПК G01N23/22 

(54) СПОСОБ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА СПЕКТРОМЕТРОМ

Известны дае хзсновные причины образова1шя| :;)го йтшараг/риого фонаг процессы в самом детектомо, приводящие к образованию импульсов с уме:2Ь 1ешюй , и наложение импульсов, гфиводящее как к уменьшению, так и к увеличению е-.шлитуды н шульсов. Причем характер и соот1юшание этих факторов таковы, что з обласш энергаи меньишх энергий пика полного поглощения преобладающими являются процессы в детекторе и в первом приближении величина фона пропорциональна величине пика полного поглощения. В. обласгибопьишх энергаи основной прктаной образования фона является наложе1ше и rпyльcoв и фоп, обусловленный этим фактором, пропорционален квадрату величины пика полного поглощения.

Таким образом, величина фона под f-ой аналитической линией может быть записана в виде

Мфл Koi -v Л Nj( KIJ Nj ) (1)

где М-общее число регастрируемых линий (вкл очая пики однократно рассеянного излуче1шя );

NJ-интенсивность j -ой регистрпруемой линии за вычетом фона;,

Koi- постоянная составляющая фона под i-ой .регистрируемой лиьшей, которая определяется естественным фоном и наличием высокоэ ергел;ческих линий у источника возбуждающего излучения;

Ki j, К1;( - постоянные коэффициенты, опреде1ляющие вклад от j -ой регистрируемой линии в фон под 1 -ой ли1шей от составляюидах аппаратурного фо ,--d и фона наложений соответственно.

Способ реализуют следующим образом.

Перед измерением анализируемых проб производят измерения проб, содержащих по одному из определяеЕ,1ЫХ и мешаюшлх элементов, и производят измерение пробы, состоящей только из паполю.,еля. Эш измерения производят при различных (минимум двух) импульсных и.нтегралып,1х загрузках, соотЕетствуюших рабочему диапазону загрузок рентгенорадиометрического анализатора. Затем| определяют для всех аналитических линий постоянные коэффициенты К i j и К т q . После этого измеряют скорости счета.аналитических линий, иптеисивных линий, мешающих элементов и пиков рассеянного излучения, т.е. производят те yvs самые; измерения, которые являются необходимыми в много элементном рентгенорадаометрическом энализе для расчета концентраций определяемых элементов, после чего по формуле (1) рассчитьшают фон под каждой из аналитических линий и вводят 4юновые поправки в расчетные формулы опрмгделения концентраций анализируемых элементов.

Указанная операция производится только один

раз перед исследованием проб, отличающихся только процентным соотношением KONmonenTOB.

Это позволяет повысить чувствительность и точность анализа без увеличения количества спектрометрических каналов для измерения фона,

Формула изобретения

дй1. Способ многоэлементного рентгенорадиометрического анализа спектрометром, заключающийся в том, что на исследуемой пробе измеряют интенсивности аналитических линий и по ним определяют концентрации анализируемых элементов, о т л и ч аSO ю щ и и с я тем, что, с целью повышеш1я чувсгви- I тельности и точности анализа, предварительно производят измерсрше энергетического расиределе}шя нмпульсов детекторов излучегшя от каждой ич аналитических липни, определяют коэффициенты

IS фоновых вкладов на месте аналитических линий от калодой из остальных аналитических линий и по измерепым на исследуемой пробе интенсивностям апалтических линий рассчитывают фон па анализируемой пробе.

0 2. Способ по п. 1,0 т л и ч а ю ш и и с я тем, что коэффищюнты фоновых вкладов определяют при двух разлиш1ых интегральных загрузках. спектрометра.