Способ получения радиокерамики Советский патент 1948 года по МПК H01B19/00 H01B3/12 

Предлагается способ получения радиокерамики с пониженными диэлектрическими потерями нз кера;мической нейтральной массы плотной структуры путем введения щелочных присадок. Особенностью способа является то, что указанные присадки вводят в количестве не выше 0,3% в переводе на окисел каждого вида.

Из условий минимума потенц iaльнoй энергии вытекает, что из четырех атомов кислорода, окружающих атом кремния, три связаны более прочно, чем четвертый, поэтому последний может совершать колебания ограниченной амплитуды.

Из этого следует, что, несмотря на то, что в кварцево.м стекле, также как и в кристаллическом кварце, имеются тетраэдры, которые не обладают прочностью связей, характерной для кристаллической решетки, потер.и в стекле должны быть больше, чем в кристаллическом кварце.

При введении Б стекло посторонних ионоз эти потери могут или возрасти или уменьшиться.

Снижение потерь может иметь место, если с введением посторонних ионов повышается плотность структуры стекла, вследствиг чего колебания атомов стекла затрудняются.

Очевидно, что при этом ионы примесей не должны занимать места с большой потенциальной энергией,, что возможно лишь при ультра1малых количествах посторонних ионов, которые, размендаясь около слабо связанных атомов стекла, препятствуют колебаниям .

Кроме того, при введении разнородных посторонних ионов может иметь место дальнейшее снижение диэлектрических потерь. Необходимо, чтобы структура стекла не разрыхлялась, а наоборот, становилась более плотной и чтобы колебания и смещения самих исчов примесей одного рода ограничивались под влиянием других посторонних ионо;5.

При таких условиях происходит своеобразный эффект взаимной нейтрализации ионов примесей. Это возможно лишь при введении малых количеств сочетаний примесей определенного вида.

Для снижения диэлектрических потерь необходимы следующие условия.

1. Кристаллическая фаза керамики не должна содержать проводящих и полуироводящих включений. Точнее, в кристаллитах исходного материала, представляющих сочетание кристаллов, не доллснс содержаться прослоек породы и

169

вкраплений других минералов, вызывающих потери. Таким образом обязательным является требование чистоты кристаллических веществ, вводимых в массу. Примером; такого вещества может служить Онотский тальк, в котором железистые соединения составляют менее 0,8%.

2. Стекловатая фаза должна быть безщелочной, а структура керамического черепка должна быть достаточно плотной.

При этих условиях для снижения потерь в керамическую массу вводят щелочные ионы, причем, согласно изобретению, количество вводимых примесей должно быть в пределах от 0,05 до 0,3% в пересчете на щелочные окислы.

Уменьшение угла диэлектрических потерь может составлять от полуторной до трехкратной величины, что подтверждается следующими экспериментальными данными.

Предмет изобретения

Способ получения радиокерамики с пониженными диэлектрическими потерями из керамической нейтральной массы плотной структуры путем

1% калиевого полевого шпата-f 0,4° потриевого полевого плшта

1,2Н калиевого полевого шпата, в который введено 260,в двууглекислой соды

0,8% калиевого полового шпата

1,3о калиевого полевого шпата, в который введено lOOu двууг.чекислой соды

введения щелочных присадок, о т л и ч а ю щ и и с я тем что указанные присадки вводят в количестве не свыще 0,3% в переводе на окисел каждого вида.