Описываемый способ спектрального количественного анализа отличается от известных тем, что в снектре снлава, подлежащего анализу, кроме линии анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичные лини1 основного компонента сплава или контрэлектрода. В процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значений относительно интенсивности подобранных ранее двух негомологичных линий. Затем строят графики для нескольких значений эталона в координатах
сГ
1
гг
тГ
7
где S , S, SJ-значения почернения используемых линий; .
Тл тГ тГ - значения контрастности для тех же линий.
Избрав среднее значение
5fSI V
Д5.
-гГ
в координатах
(IgC;.
лV
А7l
а с - концентрация аналнзируемого элемента, строят график, пользуясь которым по значению AS для анализируемого элемента в пробе находят его концентрацию.
Вследствие применения графиков, построенных с учетол: влияния измененнй условий возбуждеиия (самоиндукции, силы тока, величины вспомогательного искрового промежутка и т. д.) в процессе съемки, а также различия в свойствах фотопластинок, описываемый способ дает возможиость производить спектральный анализ но раз построенным графикам и не прибегать к систематической проверке эталонирования. Кроме того, по графикам, построенным в одной лаборатории, можно производить анализ аналогичного снлава в другой лаборатории, так как раз.иичия в свойствах фотопластинки учитываются известными методами. а различия в условиях возбуждения учитываются по описываемому методу.
Предмет изобретения
Способ спектрального количественного анализа, отличающийс я тем, что, с целью исключения влияния изменений условия возбуждения в процессе анализа, в спектре сплава, подлежащего анализу, кроме линий анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичные лннии основного компонента сплава или контрэлектрода, в процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значения относительно интенсивности подобранных ранее двух негомологичных линий, затем строят графики для нескольких значения эталона в координатах И где S , и SJ - значения почернения используемых линий; Тд тГ и т1 - значения контрастности для тех же линий, и, избрав 5 5 среднее значение Д S В координатах (IgC), где Д S - , а С - центрация анализируемого элемента, строят график, пользуясь которым, по значению Д S для анализируемого элемента в пробе находят его концентрацию.
