Магнитный дефектоскоп Советский патент 1982 года по МПК G01N27/85 

(5) МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

t

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано в магнитной дефектоскопии.

Известен магнитный дефектоскоп, содержащий раму, размещенный на ней магнитопровод, установленные на последнем соленоиды с переходными -плитами и зажимными бабками.

В известном дефектоскопе переходные плиты выполнены с возможностью поворота вокруг оси на 180°, причем на переходных плитах установлен зажимные бабки II.

При настройке дефектоскопа на различные плиты деталей,при повороте плиты необходимо снимать зажимную бабку и поворачивать ее, что снижает возможности дефектоскопа и повышает трудоемкость испытаний.

Цель изобретения - расширение технологических возможностей путем обеспечения также и циркулярного намагничивания.

Для достижения указанной цели дефектоскоп снабжен направляющими, выполненными в виде двух стержней из немагнитного материала, параллельных магнитопроводу, а одна из бабок установлена с воможностью перемещения на направляющих.

На чертеже изображена принципиальная схема дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит раму 1 с

10 изолирующими прокладками 2, на которых смонтирован магнитопровод 3 с соленоидом t и 5. На соленоиде k установлена неподвижно зажимная бабка 6 , а на соленоиде 5 переходная

15 плита 7. На раме 1 смонтирована стойка 8. Подвижная зажимная бабка 9 смонтирована на направляющих 10, выполненных в виде двух стержней из немагнитного материала, закрепленных

20 одним концом на стойке 8, а другим в корпусе неподвижной бабки 6. Нижняя плоскость подвижной бабки 9 образует с верхней плоскостью переходной плиты 7 зазор, достаточный для свободного прохождения бабки 9 над плитой 7 и магнитного потока с плиты 7 на бабку 9. Между стойкой 8 и неподвижной бабкой 6 установлен поддон 11 из немагнитопроводного материала. Подвижная бабка 9 передвигается по направляющим 10 при помощи известного винтового механизма (не показан). Направляющие 10 и поддон 11 в местах крепления на стойке 8 и неподвижной бабке 6 электроизолирован ы.

Дефектоскоп работает следующим образом.

В начале работы устанавливают деталь в центрах зажимных бабок 6 и 9. При продольном намагничивании включают электрический ток на катушки соленоидов Ц и 5. Образующийся магнитный поток замыкается по цепи: соленоид 5, переходная плита 7, бабка 9 контролируемая деталь, бабка 6, соленоид 4, магнитопровод 3. При этом происходит намагничивание контролируемой детали. Деталь поливают магнитной суспензией и производят контроль,-При циркулярном намагничивании подводят ток к направляющим 10 и к неподвижной бабке 6, при этом через деталь проходитэлектрический ток и намагничивает ее Деталь поливают магнитной суспензией и производят контроль.

Формула изобретения

Магнитный дефектоскоп, содержащий раму, размещенный на ней магнитопровод, установленные на последнем соленоиды с переходными плитами и зажимными бабками, отличающийс я тем, что, с целью расширения технологических возможностей путем обеспечения также и циркулярного намагничивания, он снабжен направляющими, выполненными в виде двух стержней из немагнитного материала, параллельных магнитопроводу, а одна из бабок установлена с возможностью перемещения на направляющих.

Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1, Дефектоскоп, фирма Jnkar, Прага, 1976 (прототип).