Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Советский патент 1988 года по МПК G01N27/85 

Фиг.1

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть испол зовано для контроля и настройки аппаратуры магнитной и магнитографической дефектоскопии.

Целью изобретения является расширение функциональных.возможностей за счет расширения диапазона имитируемых толщин изделий и размеров имитируемых дефектов.

На фиг.1 схематически изображен контрольный образец, общий вид; на фиг.2 - то же, сечение в плоскости симметрии. - .

Контрольный образец содержит планки 1, соединенные сварным швом 2, и искусственный дефект 3. Разность между радиусом кривизны валика усиления сварного шва и толщины h планки в сечениях, нормальных к оси шва, изменяется монотонно и линейно связана соотношением R К h где К - коэффициент пропорциональности, зависящий от толщины контро- лируемого металла. Искусственный дефект 3 ЛН также монотонно изменяется в соответствии с изменением толщины планки и радиуса кривизны сварного шва. Причем большему эначе ним радиуса кривизны сварного шва еоответствует и большее значение

сечения планки и искусственного дефекта.

При контроле качества сварного шва сигнал, обусловленный дефектом, снятый с контрольного образца в месте, где толщина образца и изделия одинаковая, сравнивают с сигналом, полученным с изделия. В результате сравнения определяют качество сварного шва.

Формула изобретения

1. Контрольный образец для магнитной дефектоскопии, содержащий планки, соединенные сварным швом переменного сечения с монотонно изменяющейся величиной разности радиуса кривизны и высоты усиления шча, и дефект в корне щва по его длине, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, планки выполнены переменного сечения с монотонно изменяющейся величиной сечения, пропорциональной радиусу кривизны шва.

2. Образец поп.1,отличаю щ и и с я

тем, что дефект выполнен переменного сечения, изменяющегося пропорционально изменению толщины планок.

Изобретение относится к нераз- рущающему контролю и может быть использовано для магнитографической дефектоскопии качества изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей контрольных образцов. Цель достигается тем, что контрольный образец выполнен из пла- нок 1 переменного сечения, соединен ных сварным швом 2 также переменно- го сечения с монотонно изменяющимся радиусом кривизны R. С обратной стороны планок выполнен искусственный дефект 3 переменного сечения, Оценку качества сварного шва ведут путем сравнения сигнала, полученного с контрольного образца, и изделия, в том месте, где толщина образца и изделия одинаковы. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. i (Л

J