Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов Советский патент 1988 года по МПК G01N27/85 

оо со

1чЭ

nU

00

СП

Изобретение относится к неразруша ющему контролю изделий магнитографическим методом дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества трубопроводов, сварных соединений и другого оборудования в машиностроении.

Целью изобретения является повышение чувствительности контроля за счет выбора режима подмагничивания для контролируемого сечения и магнитного носителя.

На чертеже представлен график изменения индукции в контролируемом се чеини при известном (штриховая линия и предлагаемом (сплошная линия) способах магнитографического контроля.

Способ осуществляется следующим оразом.

Изделие намагничивают не менее че десятью последовательными импульсами поля с амплитудой равной АН. Н Н + (40-50), где Н, - амплитуда напряженности поля каждого импульса. А/см HC - коэрцитивная сила контролируемого материала. А/см.

При этом индукция в контролируемо сечении возрастает по несимметричным петлям гистерезиса, достигая после 10 импульсов установившегося цикла (заштрихованная область на спинке гистерезиса).

После отключения намагничивающего устройства на контролируемую поверхность укладывают магнитный носитель (ленту) и увеличивают напряженность намагничивающего поля до заданной величины. Магнитный носитель при это намагничивается по кривой первоначального намагничивания, не достигая при этом намагниченности насьпце- иия и сохраняя способность записывать поля дефектов. Индукция в контролируемом сечении изменяется при этом по кривой В,CD, достигая при напряженности Н значения В,. По результатам записи определяют качество изделия. При известном способе контроля достижение в контролируемом сечении той же индукции возможно при

0

5

0

5

0

5

0

5

0

поле, равном Н, значительно большем Hj, и не всегда достижима при контроле. При этом металл намагничивается по кривой первоначального намагничивания OEVG.

Намагничивание изделия полем Н : c4Hj, приводит к тому, что перемаг- ничивание происходит в области возврата по линии, близкой к кривой первоначального намагничивания, либо для достижения установившегося частного цикла требуется большое количество импульсов, что требует больших затрат энергии.

Способ позволит без намагничивания магнитного носителя до насьпцения достичь заданного уровня индукции в контролируемом сечении при невысокой напряженности намагничивающего поля и тем самым обеспечить высокую чувствительность контроля.

Формула изобретения

Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что намагничивают изделие с размещенным на его поверхности носителем и по результатам записи определяют качество изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, перед укладкой носителя изделие намагничивают не менее чем десятью импульсами поля с амплитудой напряженности Н, равной

4Нс & Н 4Нр + (40 - 50),

где Н - амплитуда напряженности поля каждого импульса. А/см; коэрцитивная сила контроли-. руемого материала. А/см, а намагничивание после укладки носителя осуществляют полем с напряженностью, возрастающей до заданной величины индукции в контролируемом сечении.

HC

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии качества изделий и их сварных соединений. Целью изобретения является повышение чувствительности магнитографического контроля. Для достижения цели изделие намагничивают не менее чем десятью последовательными импульсами напряженности поля величиной 4Не + (40-50), А/см, где Н - коэрцитивная сила контролируемого материала, затем укладывают на контролируемую поверхность магнитный носитель и, увеличивая напряжрнно ть поля, доводят индукцию в контролируемом сечении до заданной. При этом маг- нитньй носитель не намагничивается до насыщения, что улучшает условия записи дефекта. 1 ил. €