Способ калибровки магнитных дефектоскопов Советский патент 1993 года по МПК G01N27/82 

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Известен способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор дефекта пропускают по нему ток, считывают величину сигнала и проводят калибровку дефектоскопа.

Недостаток указанного способа, в том, что невозможно калибровать дефектоскопы, предназначенные для контроля сварных соединений, т. к. способ не позволяет учитывать размагничивающее действие валика шва.

Наиболее близким по технической сущности к достигаемому результату является

способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа.

Недостаток способа в том, что он не позволяет с большой точностью моделировать подповерхностные дефекты сварных соединений.

Целью изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных

дефектоскопов за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов.

Указанная цель достигается тем, что имитаторы сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях С -лдяфектного контрольного образца так, ;:; продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца.

С увеличением глубины залегания дефекта ширина его магнитного отпечатка на поверхности изделия (там, где расположен датчик магнитного поля)увеличивается. Это не позволяет с достаточной точностью моделировать подповерхностные дефекты при размещении имитатора дефекта на имитаторе шва, т. к. сложно подобрать ширину имитатора дефекта, равную ширине магнитного отпечатка подповерхностного дефекта.

В заявляемом способе калибровки отсутствуют сложности, описанные выше, т. к. имитаторы дефекта и шва расположены на противоположных сторонах бездефектного образца, что наиболее точно имитирует подповерхностный дефект сварного соединения.

Способ калибровки реализуется следующим образом. На противоположные по0

5

0

5

0

верхности бездефектного контрольного образца укладывают имитаторы сварного шва и дефекта таким образом, что бы продольные оси симметрии имитатора лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. На поверхности имитатора сварного шва размещают датчик магнитного поля. Намагничивают образец, пропускают по имитаторам шва и дефекта ток во взаимно противоположных направлениях, измеряют сигнал от дефекта и калибруют дефектоскоп.

Пример. Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварного соединения с шириной усиления 22 мм. Подлежат выявлению н.епроварки в корне шва с шириной более 0,5 мм. Толщина бездефектного образца 16 мм. На его противоположные поверхности укладывают имитаторы шва (электропроводящая пластина шириной 22 мм) и дефекта (электропроводящая пластина шириной 0,5 мм) так, чтобы продольные оси-симметрии имитаторов лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. Укладывают на имитатор шва ленту И-4701. Намагничивают образец полем 380 А/см, по имитаторам дефекта и шва пропускают ток 15 и 120 А соответственно. Считывая магнитограмму с ленты калибруют дефектоскоп.

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - повышение достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов. достигается за счет того, что в способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, имитатор сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях бездефектного контрольного образца так, что продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца. 1 п. ф.

Формула изобретения Способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимно противоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого

сигнала проводят калибровку дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью

повышения достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов, имитаторы сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях бездефектного контрольного образца так, что продольные оси .симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной к поверхности бездефектного контрольного образца.