Способ рентгенографирования радиоактивных веществ Советский патент 1982 года по МПК G01N23/02 

Описание патента на изобретение SU353612A1

Изобретение относится к области рентгеноструктурных исследований кристаллических веществ методо.м норошка, в частности к исследованию структуры соединений радиоактивных элементов.

Известно несколько сиособов рентгенографического исследования радиоактивных . В настоящее время для исследования высокоактивных образцов применяется дифрактометрический метод с ионизационной рег1;(.страцией, осуществляемый на рентгеновских дифрактомерах с дистанционным управлением.

Недостатками этого метода являются высокая стоимость аппаратуры, ее сложность в эксплуатации, а также необходимость иметь значительное количество (не менее 10 мг) исследуемого порощкообразного вещества для приготовления образца прн фокусирующей геометрии съемки. Для значительных количеств соединений высокоактивных а-нзлучателей (например, для соединений кюрия или полония) возможен саморазогрев образца, что затрудняет проведение температурных исследований, а к ряде случаев может вызвать необратимые структурные изменения.

Более прост и удобен сиособ рентгенографирования с фотографической регистрацией дифракционной картины. В этом случае при достаточной герметизащш радиоактивиого образца возможно исиользованне стандартного оборудования и блнзкоГ к стаидартной методики исследования. Для

нрнготовления образца ири данном способе рентгенографирования общепрпнятым является .мстод введения исследуемого вещества в стеклянный или кварцевый капилляр, что дает хорощне рсз льтаты при исследовании

сравнительио малоактивных соединсннй. Оптимальный для этого метода объем рабочей части капилляра, заполняемый исследуемым BeniecTBOM, составляет (5- 10) . 10- см, диаметр 0,2-0,3 мм, длина

около 2 мм, что соответствует, например, для кислородных соединений тяжелых элементов массе 0,5-1 мг.

Недостатком фотометода является иеизбежное воздействие на фотослой собственного излучеиия радиоактивного образца. В больщннстве случаев спектральные характеристики собственно ироникающего излучения образца таковы, что примеиенне эффективных фн.тьтров для этого излучения ведет к полному поглощенню днфрагированных на исследуемом веществе рентгеновских луче. Уменьщенне временн экснозиции за счет увелнчеиня моихиости первичного рентгеновского иучка ограничивается

предельной мощностью существующих рентгеновских аппаратов н трубок.

Возможеп еще один снижения фона от собственного рентгеновского нзлучения, заключающийся в умеиьщении количества псследуемого вещества в образце. При указанных выще размерах рабочей области капилляра в пей находится некоторое количество вещества, которое в образовании дифракционной картины участия не прпнимает. Обычно для получения рентгенограмм используют мягкое рентгеновское излучение С/. 1,5 А, 10 КЭБ, где К - длина волпы, Е - энергия рентгеновских квантов), поэтому в создании дифракционной картины от кристалла, состоящего пз тяжелых атомов, участвует тонкий поверхностный слой образца (например, для двускиеи урана при л 1,54 А елой половинного ослабления da 2. 10 см). В то же время более жесткое собственное излучение образца, вуалирующее пленку, испускается всей его массой.

Уменьщение количества вещества в образце за счет уменьщения диаметра капилляра нецелесообразно, поскольку использование очепь топких капилляров с диаметром, много мепьщим 0,2 мм, ведет к увеличению экспозиции, кроме того, при оптимальной толп;ине стенок капилляра 15 мкм, тонкие канилляры становятся непригодными по механическим свойствам.

Цель изобретения - разработка епособа ренггенографирования радиоактивных соединений, в котором достигается снижение уровня собственного проникающего излучения образца при сохраненпи интенеивпостн рентгеновской дифракции неизменной.

Для этого исследуемое вещество разбавляют инертным слабо поглощаюн1им рентгеновские лучи порощкообразиым разбавителем с высокой теплопроводностью (например, плавленым кварцем, стеклом, графитом и т. п.) до оптимальной концентрации и полученной смесью заполняют рабочий объем капилляра. Оптимальную концентрацию для соединений тяжелых элементов при использовании рентгеновских

Г)

лучей с длинами волн 1,5-2 А и диаметрах 1.апилляров с образцами 0,2-0,3 мм выбирают в пределах от 1 :10 до 1 :100.

На фиг. 1 изображено сечение цилиндрпчеекого образца при исследовании методом порошка; на фиг. 2- то же, е заполнением капилляра исследуемым веществом по предлагаемому способу.

1 - первичный пучок рентгеновских лучей, 2 - один из дифрагированных пучков, 3 - герметичная оболочка, 4 - исследуемое вещество, 5 - слой вещества, участвующий в создании дифракционной картины (вещество этого слоя полностью лчастпует только в формировании дифрагированного пучка, отраженного под уг.том 2в 180, для меньщих углов отражении

5 количество эффективно используемого вегцества етце более уменьшается), 6..,.- разбавитель, 7 - чаетички исследуемого вещества. Соотнощение между исследуемым веществом и разбавителем (оптимальная

0 коицентрация) выбирается таким, чтобы в каиилляре находилось минимальное количество исследуемого вещества, которое необходимо для формирования максимально интенсивной дифракционной картины при

15 заданной длине волны и диаметре капилляра.

Оптимальиая концентрация для типичного случая была оиределена экспериментально. В этом эксперименте исследуе.мое

0 вещество - двуокись урана (необлученняя), разбавитель - плавленый кварц,

. - 1,54 А, внутренние диаметры кварцевых капилляров 0,2-0,25 мм, толщина ете5 нок капилляров около 15 мкм. Было установлено, что при разбавлении UO2 кварнем до соотношения 1:10-1:20 ннтенсивность дифракционной картины практически не меняется.

30 Предлагаемый способ при выбранной оптимальной концентрации был опробован на высокоактивном соединении - полуторной окисп Ст244. исследованной в тех же условиях. Сравнение рентгенограмм от капилляра со сплошным заполнением Ст2Оз и от капилляра. заполненного смееью Ст20з и кварца при объемном соотнощении 1 : 20, показало наличие четко выраженного положительного эффекта.

Формула изобретения

1.Способ рентгенографпрования радиоактивных веществ, введенных в виде порошка в стеклянный или кварцевый капилляр, с фотографической регистрацией дифракционной картины, отличающийся тем, что, е целью снижения эффекта воздействия собственного излучения вещества на. фотослой, исследуемое вещество разбавляют слабо поглощающим рентгеновские лучи порощкообразным разбавителем до оптимальной концентрации, определяемой экспериментально в зависимости от размеров 5 образца п поглощения используемого рентгеновского излучения в исследуемом веществе.

2.Способ по п. 1, отличающийся тем, что оптимальную концентрацию для

0 соединений тяжелых элементов при использовании рентгеновских лучей с длинами

волн 1,5-2 А и диаметрах капилляров с образцами 0,2--0,3 мм выбирают в преде5 лах от 1 : 10 до 1 : 100.

3. Способ по п. 1, отличающийся тгем, что, с целью предотвращения самора.--зогрева образца, в качестве разбавителя

используют вещество с высокой теплопроводностью.

Похожие патенты SU353612A1

название год авторы номер документа
Способ определения параметров решетки поликристаллических материалов 1987
  • Абовян Эдуард Самвелович
  • Григорян Аршак Грайрович
  • Акопян Геворк Седракович
  • Безирганян Петрос Акопович
SU1436036A1
Способ изучения кинетики фазовых превращений в материалах 1983
  • Бабенко Валентин Иванович
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Райцес Вениамин Борисович
SU1087855A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ СТЕПЕНИ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ В МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВАХ 1997
  • Колеров О.К.
  • Гречников Ф.В.
  • Логвинов А.Н.
  • Арышенский В.Ю.
RU2133027C1
Способ определения толщины поликристаллических пленок 1979
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Логвинов Анатолий Николаевич
SU859890A1
Держатель для рентгенографирования крупнозернистых образцов 1991
  • Бурдина Валентина Сергеевна
SU1798670A1
Способ рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов 1980
  • Колеров Олег Константинович
  • Логвинов Анатолий Николаевич
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Юшин Валентин Дмитриевич
SU976358A1
Способ определения физических параметров надмолекулярной структуры древесных целлюлоз 1990
  • Гелес Иосиф Соломонович
  • Мелех Маргарита Васильевна
  • Петрова Валентина Васильевна
SU1778651A1
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Заргарян Ерджаник Григорьевич
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1133520A1
Способ дефектоскопии тонких пленок 1934
  • Бибергаль А.В.
SU43760A1
РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЛИ ХРУПКОГО РАЗРУШЕНИЯ КРУПНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 1994
  • Беликов А.М.
  • Алейникова К.Б.
  • Мешков Н.К.
  • Комарчев И.М.
RU2090869C1

Иллюстрации к изобретению SU 353 612 A1

Реферат патента 1982 года Способ рентгенографирования радиоактивных веществ

Формула изобретения SU 353 612 A1

SU 353 612 A1

Авторы

Капшуков И.И.

Судаков Л.В.

Кузнецов Г.А.

Даты

1982-02-28Публикация

1970-09-30Подача