Изобретение относится к вычислительной технике и может быть исполь- зовано для поиска неисправных микросхем в блоке постоянной памяти fBIIII) микроэвм.
Цель изобретения - повьшение быстродействия устройства за счет уменьшения временных затрат на поиск неисправных микросхем в БГШ.
На фиг.1 изображена структурная схема предлагаемого устройства; на фиг,2 - функциональная БГШ; на фиг.З - символическое изображение блока постоянной памяти в-виде параллелепипеда.Устройство содержит (фиг,1) генертор 1 тактовых импульсов, счетчик 2 адресов, мультиплексор 3, сигнатурный анализатор 4. .Входы и выходы устройства подключаются к контроля- руемому блоку 5 постоянной памяти. Устройство также содержит формирователь 6 адресных сигналов, первый коммутатор 7, дешифратор 8, второй коммутатор 9 и элемент И 10.
Блок 5 постоянной памяти содержит (фиг.2) дешифратор 11 и микросхемы 12 Б1Ш.
Мультиплексор 3 предназначен для преобразования параллельного двоичного кода, поступающего на один из входов и имеющего 2 разрядов, в двоичную последовательность на выходе с помощью сигналов поступающих на другой вход, щую tn разрядов,
Формирователь 6 представляет со- бой наборное устройство состоящее из К тумблеров, с помощью которых оператор может установить любое К-разрядное двоичное число.
С помощью второго коммутатора 9 оператор может подключить его выход
О1 Г1
к одному ИЗ /. выходов дешифратора 8 или подать на выход логическую единицу.
Прййциц; отыскания неисправной микросхемы В БПП, реализуемьй предлагаемым устройством, заключается в следующем. Расположим мысленно мик- росхемы БПП в виде параллелепипеда, как это показано на фиг.З. Параллелепипед состоит из вертикальных и горизонтальных плоскостей. Перебирая определенным образом адреса БПП и снимая данные с помощью мультиплексора 3 с определенных информационных шин БПП, мы можем получить двоичную
5
0 5
0
5
5
последовательность, которая содержит ВСЮ информацию, записанную в микросхемах какой-либо плоскости и только в них. Используя сигнатурный анализатор. 4, можно измерить сигнатуру любой из плоскостей. Если какая- либо микросхема окажется неисправной, то сигнатуры трех плоскостей, на пересечении которых находится эта микросхема будут неверны, т.е. отличаться от сигнатур, измеренных с заведомо исп равного БПП. Таким образом, для нахождения неисправной микросхемы НУ5КНО измерить сигнатуры всех плоскостей и, зная .плоскости, сигнатуры которых неверны, определить неисправную микросхему. Очередность выборки микросхем БПП устанавливают блоки: формирователь 6, коммутатор 7 и дешифратор 11, к входам которого подключены К старших адресных разрядов БПП.
Параллельный 2 -разрядный двоичный код на выходе БПП превращаемся
,во временную последовательность еди-j ниц и нулей на первом входе сигнатурного анализатора 4 с помощью мультиплексора 3. В том случае, когда какие-то разряды из этого 2 -разрядного кода не нужно вводить в сигнатурный анализатор 4, то в тот момент, когда информационные шины этих разрядов подключаются через мультиплексор 3 к первому входу сигнатурного анализатора 4,тактовые импульсы на третий вход сигнатурного анализатора 4 не пропускаются с помо1цью дешифратора 8, коммутатора 9 и элемента И 10. Рассмотрим,, как можно измерить
сигнатуры,соответствующие информации, записанной в микросхемах различных плоскостей, изображенных на фиг.З.
I. Для измерения сигнатур плоскостей, параллельных плоскости ХОУ младщих разрядов второго входа коммутатора 7 нужно подключить к одноименным разрядам первого выхода, а оставшиеся р разрядов нужно соединить с р разрядами первого входа. Последовательно устанавливая на выходе формирователя б двоичные числа от О до 2 - 1 ,, оператор измеряет 2 сигнатур. При этом на первый вход элемента И 10 с выхода коммутатора 9 подается логическая 1, что обеспечивает прохождение всех тактовых и шульсов на третий вход сигнатур-, ного анализатора 4.
2.Для измерения сигнатур плоско тай, параллельных плоскости ZOY р младших разрядов второго входа коммутатора 7 необходимо подключить к старшим разрядам первого выхода, а оставшиеся разрядов нужно соединить с В разрядами первого входа. Последовательно устанавливая на выходе формирователя 6 двоичные числа от О до 2 -1, оператор измеряет 7 сигнатур. При .этом на первый вход элемента И 10 подается логичес кая 1. , 3.Чтобы измерить сигнатуры плос костей, параллельных плоскости 20Х, все разряды первого выхода коммутатора 7 необходимо подключить к одноименным разрядам второго.входа.
А первый вход элемента И 10 с помощью коммутатора 9 поочередно подключая к выходам дешифратора 8, оператор измеряет сигнатур. При этом на выходе мультиплексора 3 будут данные от всех микросхем- БШ1, но тактовые импульсы будут поступать на третий вход сигнатурного анализатора 4 только в те от- резки времени, когда на выход мультплексора 3 поступает информация от микросхем, лежащих в плоскости 20Х.
Измеряй сигнатуры, оператор сравнивает их с сигнатурами, .снятыми-с заведомо.исправного БШ1. После измерения всех сигнатур, зная плоскости, сигнатуры которых неверны, опе
10
15
20
25
30
35
141
ратор при помощи таблицы определяет номера неисправных микросхем.
Формула изобретения
Устройство для обнаружения ошибок в блоке постоянной памяти, содержащее генератор тактовых импульсов , выход которого подключен к входу счетчика адресов, первый выход которого соединен с первым входом мультиплексора, выход которого под- ,ключен к первому входу сигнатурного .анализатора, причем второй вход мультиплексора является входом устройства, первым выходом которого является второй выход счетчика адресов, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия в него введены коммутаторы, дешифратор, элемент И и формирователь адрес- .ных- сигналов, выход которого подключен к первому входу первого коммутатора,второй вход которого соединен с третьим выходом счетчика адресов, первый выход первого коммутатора является вторым выходом устройства, а второй выход подключен к второму входу сигнатурного анализатора, первый выход счетчика адресов подключен к входу дешифратора, выход которого соединен с входом второго коммутатора, выход которого соединен с первым входом элемента И, выход которого подключен к третьему входу сигнатурного анализатора, а второй вход - к выходу генератора тактовых импуль сов.
т
12
Фиг..
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля и диагностики цифровых блоков | 1982 |
|
SU1067506A1 |
Устройство для контроля блоков постоянной памяти | 1980 |
|
SU868843A1 |
Устройство для контроля цифровых узлов | 1984 |
|
SU1231506A1 |
Устройство для контроля цифровых узлов | 1981 |
|
SU978154A1 |
Устройство для контроля блоков постоянной памяти | 1985 |
|
SU1302323A1 |
Устройство для контроля постоянной памяти | 1987 |
|
SU1451781A1 |
Устройство для контроля цифровых узлов | 1983 |
|
SU1120338A1 |
Устройство для диагностирования логических блоков | 1982 |
|
SU1071978A1 |
Сигнатурный анализатор | 1986 |
|
SU1357961A1 |
Устройство для функционально-параметрического контроля логических элементов | 1985 |
|
SU1302220A2 |
Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано для поиска неисправных микросхем в блоке постоянной памяти (БПП) микро-ЭВМ. Цель изобретения - повьшение быстродействия устройства за счет уменьшения временных затрат на поиск неисправных микросхем в БПП. Устройство содержит генератор тактовых импульсов, счетчик адресов, мультиплексор, сигнатурный анализатор, формирователь адресных сигналов, коммутаторы, дешифратор и злемент И. Принцип отыскания неисправной микросхемы в БПП заключается в следующем Микросхемы представляются расположенными в БПП в виде параллелепипеда. Измеряются сигнатуры, соответствующие информации, записанной в микросхемах различных плоскостей параллелепипеда, затем они сравниваются с сигнатурами, снятыми с заведомо исправного БПП. 3 ил. & (Л
Фмг.З
Техника средств связи | |||
Серия Радиоизмерительная техника | |||
Способ получения фтористых солей | 1914 |
|
SU1980A1 |
Патент Великобритании № 2062309, кл | |||
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Авторы
Даты
1986-07-23—Публикация
1984-11-23—Подача