Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Советский патент 1991 года по МПК G01N27/85 

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии сварных швов и может быть использовано при контроле качества сварных швов. Целью изобретения является повышение технологических свойств контрольного образца путем расширения диапазона оценки качества двухсторонних сварных швов с переменным сечением. При контроле качества двухсторонних сварных швов штатных изделий сравнивается сигнал, обусловленный дефектом, с сигналом, обусловленным дефектом контрольного образца в том сечении, где радиус кривизны верхнего шва 3 и высоты усиления для изделия и образца одинаковы, а также одинаковы радиусы второго шва и ферромагнитного сегмента 5. При изменении величины радиуса кривизны второго шва сегмент 5 перемещают вдоль оси шва 3 на величину этого изменения. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. (Л