Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления Советский патент 1993 года по МПК G01N27/82 

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Целью изобретения является расширение области использования за счет калибровки, так же и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей.

На фиг.1 представлено устройство для калибровки магнитных дефектоскопов на контрольном образце без дефекта на фоне

магнитных полей, созданных имитатором зоны термического влияния в виде электропроводящих пластин; на фиг.2 - распределение магнитного поля имитатора дефекта. сварного-шва и зоны термического влияния на фоне намагничивания полем Но

Устройство (см.фиг. 1) для осуществления способа содержит бездефектный контрольный образец 1, электропроводящие пластины 2-4, служащие имитаторами шва, дефекта и зоны термического влияния, соответственно, источники тока 5,6, подключенные соответственно к пластинам 3 и 2. Кроме того пластины 4 подключены к- источнику 5 через реостаты 7. Пластины 4 закреплены на поверхности образца 1 у краев пластины 2. Изменяя сопротивление реостатов 7, можно добиться заданной величины тока в каждой из пластин 4.

Способ осуществляется следующим образом. Бездефектный образец 1 намагничивают полем Но от источников 5 и 6 по пластинам пропускают электрический ток. Распределение напряженности магнитного поля, образуемого пластинами 4 совместно с полем Но(см.фиг.2), близко к распределению напряженности поля в зоне термического влияния реального сварного соединения из закаливающейся стали, если ширина каждой из пластин 4 равняется ширине участков с различной структурой и химическим составом в ЗТВ реального сварного соединения.

После установки.необходимого значения электрического тока в пластинах 2-4 (см.фиг.1) на поверхность контрольного образца устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2-4. При пересечении датчиком пластин 2-4 регулировкой чувствительности настраивают дефектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами.

Устройство для осуществления способа (см.фиг.1) калибровки магнитных дефектоскопов работает следующим образом. От источников 5 и 6 по имитаторам сварного шва 2 и по имитаторам дефекта 3 и зоны термического влияния 4 пропускают электрический ток. При помощи реостатов 7 в каждой паре пластин 4 устанавливают величину тока такой, чтобы величина магнитного поля, создаваемого каждой парой пластин 4, была равна величине поля соответствующей зоны в ЗТВ.

Пример, Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварных соединений из стали 10ХСНД, толщиной 6 мм с шириной усиления 15 мм.

Подлежат выявлению дефекты шириной более 0,5 мм.

Толщина бездефектного образца 6 мм. На его поверхность укладывают друг на друга пластины шириной 15 мм и 0,5 мм. Затем

с двух сторон пластины шириной 15 мм раз мещают по 3 пластины шириной 0,9; 1,2; 1,2

мм каждая, имитирующие соответственно

следующие участки ЗТВ: перегрева, полной

перекристаллизации, не полной перекристаллизации. После этого укладывают на пластину магнитную ленту И-4701. Намагничивают образец магнитным полем Но 250 А/см, по имитаторам дефекта и шва

пропускают ток 15 А и 100 А соответственно, а по пластинам, уложенным с двух сторон имитатора шва пропускают ток силой 10; 8; 6 А. Считывают магнитограмму с ленты, добиваются четкого выделения сигнала от

дефекта на фоне сигналов от пластины имитирующих ЗТВ.

Формулаизобретения

1.Способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, размещают на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимнопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью расширения области использования путем обеспечения калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей, одновременно с двух сторон имитатора сварного шва укладывают имитатор зоны термического влияния в виде электропроводящих пластин и пропускают по ним ток в

том же направлении, что и по имитатору дефекта.

2.Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный контрольный образец, закрепленный

на нем имитатор сварного шва и расположенный на нем имитатор дефектов, выполненные каждый в виде электропроводящей пластины, ширина.имитатора шва больше ширины имитатора дефекта, и два источника тока, имитаторы сварного шва и дефекта подключены соответственно к источникам тока так, что направления токов в них противоположны, отличающееся тем, что, с целью расширения области использования путем обеспечения калибровки также и

Составитель А. Синица Техред М.Моргентал

Корректор 0. Густи

Редактор Т. Шагова

Заказ 1719Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Корректор 0. Густи

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей. В способе калибровки магнитных дефектоскопов , заключающемся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, размещают на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам то к во взаим- нопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величин этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, одновременно с двух сторон имитатора сварного шва укладывают имитатор зоны термического влияния в &иде электропроводящих пластин и пропускают по ним ток в том же направлении, что и по имитатору дефекта. Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный контрольный образец, закрепленный на нем имитатор сварного шва и расположенный на нем имитатор дефектов, выполненные каждый в виде электропроводящей пластины, ширина имитатора шва больше ширины имитатора дефекта, и два источника тока. Имитаторы сеэрного шва и дефекта подключены соответственно к источникам тока так, что направления токов в них противоположны. Устройство снабжено п реостатами и имитатором зоны термического влияния в виде п пар электропроводящих пластин, расположенных с двух сторон имитатора шва, пластины имитатора зоны термического влияния попарно подключены через реостаты параллельно имитатору дефекта к источнику тока имитатора дефекта. 2 ил. ел с 00 XI о ел