Изобретение относится к рентгено- спектральному микроанализу, особенно к определению среднего диаметра мик- ровключен}1я в плоскости шлифа.
Целью изобретения является повышение точности .за счет снижения систематической погрешности.
На чертеже приведены зависимости
do
отношения -т-- среднего диаметра микро- и 1
включения dg к д aмeтpy D первого электронного зонда от отношения I,,/Ij максимальных значений интенсивностей характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в состав микровключения, измеренных с первым (I,) и вторым (1) диаметрами электронньпх зондов при различных значениях отношений диаметров первого и второго зондов.
Способ осуществляют следующим образом.
Поверхность образца сканируют электронным зондом произвольно выбранного диаметра D, например наименьшего для используемого микроанализатора. Предел
00
vj
4
варительж) находит местонахождение микровключения, средний диаметр п плоскости шлифа которого определяют с помощью оптического микроскопа,если частица столь мала, что разглядеть ее невозможно, то сканируют весь образец Измеряют интенсивность характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в состав микровклю- чения, и фиксируют максимальное значение 1 интенсивности. Затем, сохраняя тот же ток и энергию зонда, изменяют его диаметр, например увеличивают до значения D, снова сканируют образец в месте нахождения микровключения и измеряют максимальное значение 1 интенсивности характеристического рентгеновского излучения того же элемента Измеренные интенсивности 1 и 1,должны статистически значимо отличаться друг от друга, т.е. абсолютное значение разности 111-1 I должно превышать статистическую погрешность изменения этой велич-ины с заданной доверительной вероятностью Д
,-, 7,
-1
где 6-, среднеквадратическая погрешность измерения интенсивности I, и 1 соответстве1И1о. Если различие интенсивностей 1,и 1 статистически незначимо, то изменяют диаметр электронного зонда, например увеличивают, еще раз и повторяют операции. Средни диаметр d микровключения п плоскости шлифа либо вычисляют на ЭВМ, либо определяют по зависимостям, приведенным
на чертеже. В последнем случае по значению L выбирают нужную зависимость
г
и по значению отношения I У , находят значение ), и затем d,,.
Интенсивность характеристического рентгеновского излучения элемента, входяп;его в состав микровключения, зависит от среднего диаметра микровкль)- чения в плоскости шлифа и от диаметра электронного зонда. Максимальное значение интенсивности при сканировании наблюдается, когда область генерации рентгеновского из;гучения целиком находится внутри микровключения, причем абсолютное значение это11 величины определяется диаметром зонда. Когда об- ласть генерации рентгеновского излучения превысит средний диаметр микровключении, абсо.пютное значение мак
симал1) интенсинности снизится, т.е. новое значение максимальной интенсивности (при новом, б(1льшем, диаметре ) станет меньше прежнего.
Отношение 1 ,/1 максимальных ин- тенсивностей описывается формулой
1 - ехр
Г 1 ,do г U,.21 (-) ()J
Эта зависимость при заданных значениях
Ь D
изображена на чертеже.
Q
0
5
5
0
Размер области выхода генерированного рентгеновского излучения складывается из диаметра зонда и из размера, обусловленного диффузией электронов в твердом теле. Под размером области диффузии электронов подразумевается средняя длина рассеяния электронов в твердом теле, которая зависит от распределения элементов в области диф(1)узии, т.е. в данном случае от размеров и формы микровключения. Это обстоятельство накладывает принципиальное ограничение на измерение размера микровключений по способу - прототипу. Действительно, не зная размера и формы микровключения, невозможно установить размеры области диффузии электронов. Это приводит к систематическому увеличению измеряемого по способу-прототипу размера по сравнению с истинным. Так как при обычных условиях анализа размеры области диффузии электронов составляют несколько микрометров, то систематические погрешности определения размера микро- Бк:почения могут достигать нескольких сотен процентов для частиц субмикронных и микронных размеров.
В предлагаемом способе размеры области диффузии также неизвестны, однако они сохраняются постоянными при первом и втором измерении, так как и:эмерения проводятся на одном и том же микровключении при постоянной энергии электронов. Таким образом, вклад этого фактора (размера области диффузии) одинаков как в первом, так и во втором измерениях. Поэтому при совместном решении уравнений зависимости характеристического рентгеновского излучения от диаметра зонда дан- Hbui фактор может быть исключен и тем
515
самым снижена систематическая погреиг- ность определения размера микровключения в несколько раз по сравнению со .способом-прототипом.
Пример 1. Требуется опреде- лить размер микровключения цинка в модельном образце меди. Образец готовят следующим образом: из порошка меди, в который вводят заданное коли- честно порошка цинка определенного известного размера, прессуют таблетку холодным способом.
Известный средний диаметр частиц цинка d с;р 1,70 10,10 мкм. Далее образец меди помещают в рабочую камеру микроанализатора, спектрометр настраивают на К - линию характеристического излучения цинка. Энергия электронного зонда 30 кэВ,ток зонда- 10 нА. Образец сканируют электронным зондом, настраиваясь на максимальную интенсивность характеристического излучения цинка.
При диаметре зонда U , 1,401 10,03 мкм зарегистрирована максимальная интенсивность I , 2480117 имп/с, при диаметре зонда D 17,70tO,16 мкм 1 24,4 13,3 имп/с.
Следовательно
0,079 10,002 ;
D 7
I ,/1 102 1 13.
Используя эти значения, определяют по зависимостям на чертеже
1,3 10,08 (ордината тоЧки А) и,
1
следовательно, средний диаметр части
цы цинка в плоскости шлифа dg
1,82 ±0, 1 1 мкм.
Относительная систематическая погрешность определения
SM
dp- d ср
cp
.100% 7% отн.
i г J
Для сравнения определяют размер 50 решность определения S
dp этой же частицы способом - протоМ00% . 1 .100% 1 , JB
типом
пр
5,210,1 мкм.
Относительная систематическая пог- 55 решность этого определения
dp- d сг d р
О
100%
47
2-1.7 1,7
100% 206%,
.Q , 20
5
0
5
Следовательно, погрешность определения среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа предлагаемый способом в 30 раз меньше, чем по прототипу. I
Пример 2.Требуется определить размер включения частицы из двуокиси кремния - в модельном образце ниобия. Образец готовят и анализ осуществляют точно так же, как в примере 1. Средний диаметр частиц двуокиси кремния известен d ср 1,38+0,11 мкм. Спектрометр настраивают fta К ,-линиво характеристического излучения кремния. Энергия электронного зонда 15 кэВ, ток зонда - 10 нА. Образец сканируют электронным зондом, настраиваясь на максимальную интенсивность характеристического излучения кремния.
Результаты анализа следующие: при D, 1,80 t 0,01 мкм - I , 763 t
110 имп/с, при D 9,80 1 0,09 мкм - I о 3113 11мп/с .
Следовательно D ,/0 О, 184 ±0,01, 1,/ 24,612,5.
Используя эти значения, определяют по зависимости на чертеже , 0,83 1 0,03 (ордината точки С) и, следовательно, средний диаметр микровключения d р 1,49 t 0,05 мкм.
Относительная систематическая погрешность определения
«ч
d о - d
d ср
Ь38 1,38
- 100%
100%
Для сравнения определяют размер этого же включения по способу-прототипу:
пр
4,701 О, 10 мкм.
Относительная систематическая погnf
пр а о
d -d
С
решность определения S
М00% . 1 .100% 240%, что в 1 , JB
30 раз больше, чем в предлагаемом способе.
Таким образом, предлагаемый способ позволяет снизить систематическую погрешность определения среднего диаметра микровключений до /ч/10%.
71518747
ормула изобретения
но го ют з по ра ве и
Способ электронно-зондового определения среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа, включающий сканирование поверхности шлифа электронным зондом, измерение интенсивности характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в состав микровключеиия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности за счет снижения система тической погрешности, при двух значениях диаметра электронного зонда измеряют максимальные значения интенсивности характеристическопо рентге8
новского излучения элемента, входящего в состав микровключения, определяют их разность и при ее абсолютном значении меньшем, чем статистическая погрешность измерения этого значения разности при заданной доверительной вероятности, изменяют диаметр зонда и повторяют измерения и операцию
сравнения до тех пор, пока разность измеренных интенсивностей не превысит статистическую погрешность измерения этой разности при заданной доверительной вероятности, после чего
определяют средний диаметр микровключения в плоскости шлифа по отношению измеренных интенсивностей.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ анализа эволюции нановключений в тонкопленочных нанокомпозитах | 2022 |
|
RU2798708C1 |
Способ определения размеров области гомогенности распределения химических элементов в твердых веществах | 1972 |
|
SU441489A1 |
Способ количественного электронно-зондового микроанализа образцов с шероховатой поверхностью | 1987 |
|
SU1502990A1 |
Способ оценки неоднородности конструкционных материалов и отдельных неоднородных участков по содержанию химических элементов | 2020 |
|
RU2730929C1 |
СТЕРЕОЛОГИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ КОРРЕЛЯЦИИ ВЫТЯНУТЫХ ОБЪЕКТОВ | 2003 |
|
RU2326441C2 |
Способ рентгеноспектрального микроанализа твердых тел | 1989 |
|
SU1755144A1 |
Способ определения распределения состава в слоисто-однородных объектах | 1984 |
|
SU1224691A1 |
Способ определения степени дефектности покрытий | 1987 |
|
SU1608530A1 |
Способ комплексной оценки неоднородности материала | 2024 |
|
RU2818994C1 |
Способ определения состава водо-СОдЕРжАщиХ МиНЕРАлОВ | 1979 |
|
SU800837A1 |
Изобретение относится к рентгеноспектральному анализу, особенно к определению среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа. Целью изобретения является повышение точности за счет снижения систематической погрешности. Поверхность шлифа сканируют при двух диаметрах электронного зонда и измеряют максимальные значения интенсивности характеристического рентгеновского излучения элемента, входящего в состав микровключения. Если разница между измеренными интенсивностями меньше, чем статистическая погрешность измерения при заданной доверительной вероятности, то изменяют диаметр электронного зонда и повторяют измерения. В противном случае определяют средний диаметр микровключения в плоскости шлифа по отношению измеренных интенсивностей. 1 ил.
Салтыков С.Л | |||
Стереометрическая металлография | |||
М.: Металлургия, 1970, с | |||
Прибор для очистки паром от сажи дымогарных трубок в паровозных котлах | 1913 |
|
SU95A1 |
Практическая растровая электронная микроскопия | |||
Под ред | |||
Дж | |||
Гоулдстейна и X | |||
Яковица | |||
М.: Мир, 1978, с | |||
Трепальная машина для обработки лубовых растений | 1923 |
|
SU342A1 |
Авторы
Даты
1989-10-30—Публикация
1987-09-14—Подача